电阻值的测定时间可设定范围是:CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置,单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置,完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104-1x1014Ω,电阻测量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定:使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置,需设置测量电压,因为仪器恒压工作测量漏电流,用欧姆定理计算电阻值。助焊剂材料中的有机酸或无机酸及盐等焊接后的残留物以及经高温后会变成有腐蚀性的离子污染物。湖北直销电阻测试订做价格
J-STD-004B要求使用65°C,相对湿度为88.5%的箱体,并且按照方法来制备测试样板。表面绝缘电阻要稳定96小时以后进行测试。然后施加低电压进行500小时的测试。测试结束时,在相同的电压下再次测试表面绝缘电阻。除了满足绝缘电阻值少于10倍的衰减之外,还需要观察样板是否有晶枝生长和腐蚀现象。这个测试结果可以定义助焊剂等级是L、M还是H,电化学迁移(ECM)IPC-TM-650方法用来评估表面电化学迁移的倾向性。助焊剂会涂敷在下图1所示的标准测试板上。标准测试板是交错梳状设计,并模拟微电子学**小电气间隙要求。然后按照助焊剂不同类型的要求进行加热。为了能通过测试,高活性的助焊剂在测试前需要被清洗掉。清洗不要在密闭的空间进行。随后带有助焊剂残留的样板放置在潮湿的箱体内,以促进梳状线路之间枝晶的生长。分别测试实验开始和结束时的不同模块线路的绝缘电阻值。第二次和***次测量值衰减低于10倍时,测试结果视为通过。也就是说,通常测试阻值为10XΩ,X值必须保持不变。这个方法概括了几种不同的助焊剂和工艺测试条件。湖南pcb绝缘电阻测试以客为尊绝缘体表面或内部有形成电解质物质的潜在因素。包括绝缘体本身的种类,构成,添加物,纤维性能,树脂性能。
广州维柯多通道SIR-CAF实时离子迁移监测系统——GWHR256-(2000/5000),测试电压高达2000V/5000V可选精度高:1x106-1x109Ω≤±2%;取值速度快:20ms/所有通道;限流电阻:每个通道设有1MΩ限流电阻,保护金属丝晶体做失效分析;配置灵活:模块化设计,可选择16模块*N(1≤N≤16);16通道/模块;测试配置灵活:每块模块可设置不同的测试电压,可同时完成多工况测试;授权手机APP可以远程进行相关管理、操作,查看样品监测数据;操作方便:充分考虑实验室应用场景,方便工程师实施工作;数据可曲线显示;配不间断电源UPS;接口友好:软件可定制,或开放数据接口,或接入实验室LIMS系统;
当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。测试方法通常是认证助焊剂在裸铜板上的表现,但是NiAu和HASL工艺的残留物对PCB表面的漏电有一定影响。HASL工艺使用的助焊剂中的乙二醇会被环氧基板编织布所吸收,增强基板的吸水性。己经有一些案例说明NiAu的金属层会增电化学迁移的趋势。表面涂层的影响取决于表面涂层所用的助焊剂和化学剂。四线法的基本原理在于通过将电流引入被测件的两个端点,并通过另外两根单独的引线在被测件的两端测量电压。
在精密电子制造业的舞台上,每一块PCBA(印刷电路板组装)的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展,PCBA的复杂度与集成度不断提升,如何有效控制生产过程中产生的污染物,确保电路板的长期可靠性,成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统,正是这一挑战的解决方案。【深度洞察,精确监测】广州维柯多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统 GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准,专为PCBA的可靠性评估而设计,它能够实时监控SIR(表面绝缘电阻)和CAF(导电阳极丝)的变化,精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。表面绝缘电阻(Surface Insulation Resistance, SIR)是衡量PCB抗CAF能力的重要指标,低SIR值预示CAF风险。江西电阻测试售后服务
CAF测试——电路板离子迁移测试的有效方法!湖北直销电阻测试订做价格
在七天的测试中,不同模块之间的表面绝缘电阻值衰减必须少于10Ohms,但是要排除**开始24小时的稳定时间。电压是恒定不变的。这和ECM测试在很多方面不一样。两者的不同点是:持续时间、测试箱体条件和频繁测量数据的目的。样板同样需要目测检查枝晶生长是否超过间距的20%和是否有任何腐蚀引起的变色问题。表面绝缘电阻(SIR)IPC-TM-650方法定义了在高湿度环境下表面绝缘电阻的测试条件。SIR测试在40°C和相对湿度为90%的箱体里进行。样板的制备和ECM测试一样,都是依据方法制备(如图1)。***版本的测试要求规定每20分钟要检查一次样板。湖北直销电阻测试订做价格