5.1.硬件连接与操作步骤1)事先准备好要求测试的PCB样品,接好测试线,插入相对应的航空座。2)把纳伏表和可编程电源安装好,连接仪器与计算机通信线。3)接好机柜电源,并检查仪器是否有错误提示,如有提示需先按照仪器说明把错误提示排除。4)根据软件操作设置开始测试流程。注意:※在测试的过程禁止触摸被测物品。※禁止带电拔插测试线的航空头。※如需设备检修必须把电断开。本系统只提供自有版权的导通电阻实时监控测试操作软件,Windows操作系统、MS-office软件及相关数据库由客户自行购买*该系统可根据客户的不同需求,定制特殊要求以实现更多功能测试控制软件管理模块:用户管理、工况管理、配置管理、设备管理。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试系统
从监控的方式看(除阻值监控外):ECM/SIR可以通过放大镜进行直观的判断;而CAF只能通过破坏性的切片进行微观条件下的分析;ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性,而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度,故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试,如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等,以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性;离子迁移既然是绝缘信赖度的***,因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管,因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如:加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管,导致ECM或CAF的生成,便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍;藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度(防焊前处理),这些对绝缘劣化影响很大的项目,可以大幅提升高密度电路板的信赖性。表面绝缘SIR电阻测试设备电阻测试设备比较复杂。
一般我们使用这个方法来量测静态的表面绝缘电阻(SIR)与动态的离子迁移现象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿来作 CAF(Conductive Anodic ****ment,导电性细丝物,阳极性玻纤纤维之漏电现象)试验。 注:CAF主要在测试助焊剂对PCB板吸湿性及玻璃纤维表面分离的影响。 表面绝缘电阻(SIR)被***用来评估污染物对组装件可靠度的影响。跟其他方法相比,SIR的优点除了可侦测局部的污染外,也可以测得离子及非离子污染物对印刷电路板(PCB)可靠度的影响,其效果远比其他方法(如清洁度试验、铬酸银试验…等)来的有效及方便。 由于电路板布线越来越密,焊点与焊点也越来越近,所以这项实验也可作为锡膏助焊剂的可用性评估参考。
在进行离子迁移绝缘电阻测试时,需要注意以下几点。首先,要选择合适的测试设备和方法,确保测试结果的准确性和可靠性。其次,要根据实际情况确定测试的参数和条件,如湿度、温度、电压等。要及时记录和分析测试结果,发现问题并采取相应的措施进行修复或更换。离子迁移绝缘电阻测试是一种重要的电子产品质量检测方法。它通过测量离子迁移速率和绝缘电阻值,来评估材料的质量和可靠性。离子迁移绝缘电阻测试广泛应用于电子产品制造和质量控制过程中,可以帮助检测材料的离子迁移问题和绝缘电阻异常,从而确保电子产品的质量和可靠性。表面绝缘阻抗(SIR)测试数据可以直接反映PCBA的表面清洁度(包括加工、制造过程的残留)。
导电阳极丝测试(Conductiveanodicfilamenttest,简称CAF)是电化学迁移的其中一种表现形式。它与表面树状生长的区别:1.产生迁移的金属是铜,而不是铅或者锡;2.金属丝是从阳极往阴极生长的;3.金属丝是由金属盐组成,而不是中性的金属原子组成。焊盘中的铜金属是金属离子的主要来源,在阳极电化学生成,并沿着树脂和玻璃增强纤维之间界面移动。随着时代发展和技术的革新,PCB板上出现CAF的现象却越来越严重,究其原因,是因为现在电子设备上的PCB板上需要焊接的电子元件越来越多,这样也就造成了PCB板上的金属电极之间的距离越来越短,这样就更加容易在两个金属电极之间产生CAF现象。智能电阻可以直接通过连接到计算机或移动设备上进行测试。PCB绝缘电阻测试注意事项
选择智能电阻时,用户需要根据具体需求考虑精度、稳定性、接口等因素,以便选择适合的智能电阻产品。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试系统
电阻测量仪是一种专门用于测量电阻值的仪器。它通过将待测电阻与已知电阻进行比较,从而得到准确的电阻值。电阻测量仪具有高精度、快速测量的特点,适用于各种电阻值的测量。电阻测试夹具是一种用于固定和连接电阻的工具。它通常由导电材料制成,具有良好的导电性能和稳定的连接效果。电阻测试夹具可以帮助工程师快速、准确地进行电阻测试,提高工作效率。选择电阻测试配件时,首先要考虑其准确性。准确的测试结果对于电子产品的制造和维修至关重要,因此需要选择具有高精度的电阻测试配件。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试系统