广州电阻测试分析

表面绝缘电阻（SIR）测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压，经过长时间的试验，观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻（SIR）测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题，也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质，通过表面绝缘电阻（SIR）测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时，在高温高湿状态下施加电压，电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下，离子化金属向相反的电极间移动（阴极向阳极转移），相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象（类似锡须，容易造成短路），这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时，表面绝缘电阻（SIR）测试可以通过电阻值显现出来。电阻测试用于测量电路中的电阻值。广州电阻测试分析

PCB离子迁移绝缘电阻测试是一项重要的测试方法，用于评估PCB板的绝缘性能。在电子产品制造过程中，PCB板的绝缘性能是至关重要的，它直接影响着产品的可靠性和安全性。因此，进行PCB离子迁移绝缘电阻测试是必不可少的。PCB离子迁移是指在电场作用下，PCB板表面的离子会迁移到其他位置，导致电路短路或绝缘性能下降。这种现象主要是由于PCB板表面的污染物引起的，例如油污、灰尘、水分等。当这些污染物存在时，它们会在电场的作用下形成离子，进而迁移到其他位置，导致电路短路或绝缘性能下降。PCB绝缘电阻测试价格在电子设备制造和维修过程中，电阻测试是非常重要的一环。

CAF形成过程：1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布，然后涂环氧树脂半固化后制成；2、树脂与玻纤之间的附著力不足，或含浸时亲胶性不良，两者之间容易出现间隙；3、钻孔等机械加工过程中，由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏；4、距离较近的两孔若电势不同，则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。CAF产生的原因：1、原料问题1)树脂身纯度不良，如杂质太多而招致附著力不佳；2)玻纤束之表面有问题，如耦合性不佳，亲胶性不良；3)树脂之硬化剂不良，容易吸水；4)胶片含浸中行进速度太快；常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。2、流程工艺问题1)孔粗－钻孔太过粗糙，造成玻纤束被拉松或分离而出现间隙；2)除胶渣－PCB制程之PTH中的除胶渣过度，或沉铜浸入玻纤束发生灯芯效应，过度的灯芯加上孔与孔相距太近时，可能会使得其间板材的绝缘品质变差加速产生ＣＡＦ效应。

广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定：使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置，需设置测量电压，因为仪器恒压工作测量漏电流，用欧姆定理计算电阻值。电阻值的测定时间可设定范围是：CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置，单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置，完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104 -1 x1014 Ω，电阻测量精度：1x104 -1x1010Ω≤±2%， 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%智能电阻具有高精度的特点。

Sir电阻测试是一种常用的电阻测试方法，它可以用来测量电路中的电阻值。在电子工程领域中，电阻是一种常见的电子元件，它用来限制电流的流动。因此，了解电路中的电阻值对于电子工程师来说非常重要。Sir电阻测试是一种非接触式的测试方法，它利用电磁感应原理来测量电路中的电阻值。这种测试方法不需要直接接触电路，因此可以避免对电路的损坏。同时，Sir电阻测试还具有高精度和高速度的优点，可以更加快速准确地测量电路中的电阻值。测量离子与非离子污染物对PCB可靠性的影响，其效果远比其它方法（如清洁度试验、铬酸银试验等）有效方便。陕西SIR和CAF电阻测试系统

SIR是通过测试表面绝缘电阻的方法来监控ECM电化学迁移的发生程度； 通常我们习惯讲的SIR，即为ECM测试；广州电阻测试分析

一个的电阻测试设备供应商应该提供及时的技术支持。当用户在使用设备时遇到问题时，他们应该能够及时联系到供应商的技术支持团队。供应商的技术支持团队应该由经验丰富的工程师组成，能够快速诊断和解决问题。他们可以通过电话、电子邮件或在线聊天等方式与用户进行沟通，帮助用户解决问题。还可以提供远程技术支持服务。通过远程技术支持，供应商的工程师可以通过互联网远程连接到用户的设备，进行故障诊断和修复。这种方式不仅可以节省用户的时间和成本，还可以提高故障排除的效率。当用户遇到问题时，他们只需要联系供应商的技术支持团队，工程师就可以远程连接到设备并进行故障排查。广州电阻测试分析