高压空载,低压限流态运行试验 测试说明: 高压空载运行是测试模块的损耗情况,尤其是带软开关技术的模块,在空载情况下,软开关变为硬开关,模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时,模块的损耗情况,通常状态下,模块在低压输入、满载输出时,效率较低,此时模块的发热较为严重。 试验是模仿电子产品工作状态进行的,即焊点由于自身的电阻,当有电流通过时会发热,而不工作时焊点恢复到室温,从高温到室温意味着焊点经受高低温的变化,在汽车电子中有些部位电子产品中焊点升温会达刭800C以上。如果再加上环境温度交替变化那么焊点升温还会更高。故该试验方法实用性强,但试验周期长费用高,试验前应做好充分准备。上海天梯主营地震测试等项目!上海电信设备抗震性能联系方式
HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品地震的测试手段,HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品地震试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品地震的薄弱环节。上海电信设备抗震性能联系方式地震测试需要使用什么设备?
led的发光方式与传统光源截然不同。它是利用半导体PN节中的电子与空穴的复合来发光。发光方式的不同决定了LED与传统光源有着本质的区别,也决定了它有自己独特之处。 1.恒定湿热测试:灯具在经过冲击测试后,不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。测试方法:按led灯具的额定输入电压接通电源点灯;通过继电器控制灯具在常温常压下进行冲击测试,测试设置为:点灯30s、熄灯30s,循环10000次。 灯具在经过冲击测试后,不能发生漏电、点灯不亮等电气异常现象。 2.通过调压器将led灯具的输入电压调为较大额定输入电压的1.1倍;将灯具按以上方法在上下、左右、前后三个方向上分别测试30分钟。将led灯具放置在一个室温为25℃的环境下;温度循环测试:通过调压器将led灯具的输入电压调为较小额定输入电压的0.9倍
地震是什么呢?地震有哪些分类?人类怎样监测地震?地震来临时该怎么办?1976年7月28日 天地撼动的瞬间 里氏7.8级的唐山大地震 短短数秒之内,百年城市夷为墟土 转眼已是43年 当今世界,地震是非常具有破坏力的自然灾害。地震造成的损失严重除了是自然灾害的影响,也跟每个产品对于地震的抗震性不高,以及通信设备在这种环境中会失去作用有关系。地震测试可以检测使用的通信相关设备所具有的抗震性,对于抗震性达不到标准的产品,检测对应的数据,进行完善,有效的改善产品的质量。一般的地震测试项目包含哪些内容?
上海天梯检测技术有限公司振动测试: 振动是自然界较普遍的现象之一,是指物体在平衡位置附近的往复运动,在振动的过程中,振动物体的一些物理参数,如位移、速度等,将发生反复变化,由此对日常生活和电子工程带来一定的危害。对于电工电子产品而言,在产品包装运输、安装及使用过程中,都会发生振动,这种振动一般是随机且无规律的,为提前确保产品到客户手里可正常使用,国家标准中针对电工电子产品的环境试验,也明确定义了振动的测试标准。 振动的危害 振动会影响精密仪器设备的功能,加剧构件的疲劳和磨损,从而缩短机器和结构物的使用寿命 引起结构的大变形破坏,产生巨大损失 导致产品性能和工作状态的不稳定,甚至产品的损坏 降低行业产品竞争力 破坏企业品牌形象 产生更高的费用和售后人力地震是电子设备的重要质量特性之一。上海电信设备抗震性能联系方式
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上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级(外壳防护试验): 外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 上海电信设备抗震性能联系方式
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