轨道交通测试试验实验室

步入式温度箱测试概念

步入式温度试验是用来确定大型设备（汽车整车温度测试）及电子产品、各种电子元气件在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性，检验其各性能项指标。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。

步入式温度试验需要符合的标准：

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温

GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热方法

GB/T2423.4-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Db交变湿热(12h+12h循环)轨道交通测试试验产品在交付使用前，都需要进行冲击和振动试验并提交CNAS/CMA检测报告。轨道交通测试试验实验室

轨道交通*常被用于简称现代城市轨道交通。随着中国城市化进程加快，很多城市开始兴建服务于城市境内的各种轻型化铁路系统，比如地下铁路、轻轨铁路、单轨铁路、磁悬浮铁路等。由于轨道形式多种多样，所以当地的市内铁路公司会将这一系列的铁路系统都以“轨道交通”概况，成立城市轨道交通公司。

地铁系统是城市轨道交通中运用*广fan的铁路系统种类，绝大多数城市的轨道交通主体也是地铁系统。因此部分城市的轨道交通以“地铁”概况，不过这里的“地铁”已经不局限于地铁系统，还包括市内其它类别的轨道交通。 上海盐雾腐蚀轨道交通测试试验价格当前，轨道交通材料防火测试有2大主流标准，具体为：欧盟标准EN 45545，美洲标准NFPA 130。

三综合试验概述三综合试验是指综合温度、湿度、振动三个环境应力的试验。本试验是用于考核产品在温湿度和振动三综合的环境下运输、使用的适应性。与单一因素作用相比，更能真实地反映电工电子产品在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性，暴露产品的缺点，是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。三综合试验箱符合标准GB/(温度试验设备)、(试验A低温试验方法)、(试验B高温试验方法)、GB/(湿热试验方法)、(高温试验)。

⑸IPX 5

方法名称：喷水试验

试验设备：喷嘴的喷水口内径为 6.3mm

试验条件：使试验样品至喷水口相距为 2.5m ～ 3m ，水流量为 12.5 L/min （750 L/h)

试验时间：按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min （不包括安装面积） *少 3

min

⑹IPX 6

方法名称：强烈喷水试验；

试验设备：喷嘴的喷水口内径为 12.5 mm

试验条件：使试验样品至喷水口相距为 2.5m ～ 3m ，水流量为 100 L/min （6000 L/h)

试验时间：按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min（不包括安装面积）*少 3 min 上海天梯检测属于CNAS认可的第三方检测机构，为企业备提供长寿命振动试验、功能性振动试验、机械冲击试验。

⑶IPX 3

方法名称：水溅试验

试验方法：

a。摆管式淋水试验

试验设备：摆管式淋水溅水试验装置

试样放置：选择适当半径的摆管，使样品台面高度处于摆管直径位置上，将试样放在样台上，使其顶部到样品喷水口的距离不大于 200mm ，样品台不旋转。

试验条件：水流量按摆管的喷水孔数计算，每孔为 0.07

L/min ，淋水时，摆管中点两边各 60° 弧段内的喷水孔的喷水喷向样品。被试样品放在摆管半圆中心。摆管沿垂线两边各摆动 60°，共 120°。每次摆动（2×120°）

约 4s

试验时间：连续淋水 10 min

b。喷头式淋水试验

试验设备：手持式淋水溅水试验装置

试样放置：使试验顶部到手持喷头喷水口的平行距离在 300mm 至 500mm 之间

试验条件：试验时应安装带平衡重物的挡板，水流量为 10

L/min

试验时间：按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min （不包括安装面积），*少 5 min 轨道交通 机车车辆设备 冲击和振动试验 IEC 61373：2010。上海盐雾腐蚀轨道交通测试试验价格

振动试验分为：功能性随机振动试验和模拟长寿命振动试验。轨道交通测试试验实验室

轨道交通综合测试之：

静电放电抗扰度测试

GB/T17626.2国内静电放电标准描述的是在低湿度环境下,通过摩擦使人体带电.带了电的人体,在与设备接触过程中就可能对设备放电.静电放电抗扰度试验模拟了两种情况:⑴设备操作人员直接触摸设备时对设备的放电,和放电对设备工作的影响;⑵设备操作人员在触摸邻近设备时,对所关心这台设备的影响.

其中前一种情况称为直接放电(直接对设备放电);后一种情况称为间接放电(通过对邻近物体的放电,间接构成对设备工作的影响).静电放电可能造成的后果是:

⑴通过直接放电,引起设备中半导体器件的损坏,从而造成设备的yong久性失效.

⑵由放电(可能是直接放电,也可能是间接放电)而引起的近场电磁场变化,造成设备的误动作. 轨道交通测试试验实验室

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