综合MicroLED检测-LMK参数

基于高级像素配准的DeMura算法，让每一颗像素都完美

LMK DeMura是一款专业软件，它提供了一种创新的方法——使用LMK将每个像素的亮度分配给正确的位置索引。与传统方法“关闭相邻像素并单独测量”的方式不同，APR算法使用高密度点云作为几何配准图案，用于校准特定设置和显示的位置索引。这意味着在Micro LED像素级检测中，LMK不但能够测量每一个像素的光学参数，还能精确地将测量数据与每一个物理像素位置一一对应，为后续的像素调校（DeMura）提供精确的数据基础。从测量到校正，LMK提供了完整的像素级质量管理闭环。 像素级测量，LMK成像色度计赋能Micro LED检测，提供专业方案。综合MicroLED检测-LMK参数

显示器Mura测试与全视角对比度检测

在显示测试领域，LMK 6-12可完成显示器Mura测试和全视角对比度测试。Mura（亮度不均）是显示面板最常见的缺陷之一，在Micro LED显示屏中表现得尤为突出——由于每颗Micro LED芯片的发光效率存在微小差异，未经校正的面板往往呈现出肉眼可见的Mura现象。LMK 6-12以像素级分辨率对整块面板进行成像测量，通过Labsoft软件的Mura分析算法自动识别和量化Mura缺陷的严重程度和分布范围。同时，配合GSD2000的旋转轴，LMK 6-12还能完成全视角下的对比度测试，为Micro LED显示屏的视角性能提供数据支撑。 供应MicroLED检测-LMK大概价格多少亮度重复性优于0.1%，LMK6确保Micro LED批量检测高度一致。

从实验室到产线：GSD2000的全场景检测能力

GSD2000搭载LMK成像色度计的检测平台具备从实验室研发到产线量产的全场景覆盖能力。在实验室场景中，GSD2000的精密五轴运动和LMK的高精度成像支持工程师进行深度的光学方案验证和失效分析;在产线场景中，GSD2000的自动化检测流程和快速数据分析能力支持批量化的品质抽检和全检。一套设备、两种模式——GSD2000不但降低了客户的设备投资成本，更实现了研发与量产之间检测数据的无缝衔接，确保实验室优化的光学方案能够在产线上得到精细的品质验证。

德国PTB溯源校准，国际计量级精度保障

每一台LMK成像色度计的校准均可溯源至德国联邦物理技术研究院（PTB），这是全球比较高等级的光学计量标准。LMK 6-12在校准不确定度方面表现优异——定焦镜头亮度校准不确定度小于2%，变焦镜头小于2.5%，测量重复性优于0.1%。在CIE标准A光源条件下，亮度测量精度优于3%色坐标x、y测量误差小于0.0020。对于Micro LED检测而言，这样的精度意味着每一个像素的测量数据都具备国际互认的计量效力，为产品的品质认证提供了无可置疑的数据公信力。 全视角对比度测试，LMK6评估Micro LED显示屏视角性能。

液晶显示器测试：均匀性、Mura、Gamma、视角一站式检测

虽然LMK 6-12在Micro LED检测中表现出色，但其检测能力同样覆盖传统的液晶显示器（LCD）测试领域——包括均匀性、Mura、残影、Gamma、亮度、色度、视角等特性测试。对于同时生产LCD和Micro LED两种显示技术的面板厂而言，LMK 6-12提供了一种“一机多用”的检测解决方案。无需为不同显示技术配置不同的检测设备，一台LMK 6-12即可完成从LCD到Micro LED的光学检测。这种跨技术平台的检测能力，不但降低了设备投资成本，更简化了检测流程和标准管理体系。 Labsoft软件自动识别发光体，高效完成Micro LED批量数据分析。综合MicroLED检测-LMK参数

LMK6搭配远心镜头，消除畸变，实现Micro LED微米级测量。综合MicroLED检测-LMK参数

GSD2000：为LMK6量身打造的五轴精密检测平台

GSD2000是光色科技面向汽车内外饰发光件推出的高精度光学检测平台，系统搭载LMK成像色度计，集成五轴联动运动控制系统。GSD2000的五轴结构由XYZ三轴直线模组搭配UV双旋转轴构成，位置定位精度高达±0.01mm，角度精度达到±0.1°。这意味着当LMK 6-12搭载于GSD2000之上时，可以从任意空间角度精确采集Micro LED发光件的光学数据——无论是平面面板、曲面屏幕还是异形结构件，GSD2000都能将LMK 6-12精细定位至每一个需要检测的位置和角度。LMK的像素级测量精度与GSD2000的亚毫米级定位精度相结合，构成了Micro LED检测领域的高标准硬件组合。 综合MicroLED检测-LMK参数