X射线衍射仪(XRD)是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器,通过测量衍射角与衍射强度,获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。
制药行业:药物多晶型研究与质量控制在制药领域,药物的晶型直接影响其溶解度、稳定性和生物利用度。XRD可精确区分同一药物的不同晶型(如阿司匹林的多晶型),确保药物研发符合法规要求。此外,XRD用于原料药和制剂的质量控制,检测晶型纯度,防止无效或有害晶型的混入。近年来,原位XRD技术还被用于研究药物在温度、湿度变化下的晶型转变,优化制剂工艺。 测量外延层晶格失配度。桌面型粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析
小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在超导材料精细结构分析中的应用虽面临挑战(如弱信号、复杂相组成),但通过针对性优化,仍可为其合成、相纯度和结构演化研究提供关键数据支持。
MgB₂及其他常规超导体关键问题:杂质相检测:合成中易生成MgO(衍射峰与MgB₂部分重叠)。碳掺杂效应:C替代B导致晶格收缩(a轴变化)。解决方案:Kα₂剥离:软件去除Kα₂峰干扰,提高峰位精度。纳米尺度分析:Scherrer公式估算晶粒尺寸(影响磁通钉扎)。(4)新型超导材料探索(如氢化物、拓扑超导体)应用场景:高压合成产物:检测微量超导相(如H₃S的立方相)。拓扑绝缘体复合:Bi₂Se₃/超导异质结的界面应变分析。限制:台式XRD难以实现高压原位测试(需金刚石对顶砧附件)。 桌面型粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析检测晶圆加工残余应力。
小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在刑事侦查物证分析中具有独特优势,能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息,为案件侦破提供关键科学依据。
物残留分析检测目标:无机**:KNO₃(**)、NH₄NO₃(硝酸铵**)有机**:RDX(1,3,5-三硝基-1,3,5-三氮杂环己烷)技术方案:原位检测:现场尘土直接压片分析混合物解析:全谱拟合定量各组分(如**中S/KNO₃/C比例)特征数据:RDX主峰:13.6°、17.2°、28.9°NH₄NO₃多晶型鉴别(常温相IV:23.1°、29.4°)
X射线衍射仪(XRD)是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器,通过测量衍射角与衍射强度,获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。
电子与半导体工业:薄膜与器件材料的分析在半导体和电子器件制造中,XRD用于分析薄膜材料的晶体质量、厚度和应力。例如,在硅基半导体行业,XRD可测量外延层的晶格匹配度,减少缺陷。在第三代半导体(如GaN、SiC)研究中,XRD可分析位错密度,提高器件性能。此外,XRD还可用于LED、太阳能电池等光电器件的材料表征,优化能带结构设计。 表征量子点尺寸分布。
小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在复杂材料精细结构分析中的应用虽然受限于其分辨率和光源强度,但通过优化实验设计和数据处理,仍可在多个行业发挥重要作用。
复杂材料的精细结构分析需求复杂材料(如多相混合物、纳米材料、非晶-晶态复合材料)的结构分析需解决以下问题:物相鉴定:多相共存时的衍射峰重叠。微观结构:晶粒尺寸、微观应变、缺陷(位错、层错)。局域有序性:短程有序(如非晶相中的晶畴)。结构演化:相变、应力-应变响应。 航天器材料发射前状态确认。桌面型粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析
鉴别陶瓷文物真伪(如检测现代高岭石)。桌面型粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析
YBCO薄膜的氧含量调控目标:确定退火后薄膜的δ值。步骤:测量(005)峰位,计算c轴长度。根据校准曲线(cvs.δ)确定氧含量。检测杂相(如BaCuO₂)确保薄膜纯度。设备:RigakuSmartLab,配备高温腔室。案例2:铁基超导体SmFeAsO₁₋xFx的掺杂分析目标:评估F掺杂对晶格的影响。步骤:精修a、c轴参数,观察F掺杂引起的收缩。分析(002)峰宽变化,评估晶格畸变。数据:x=0.1时,c轴缩短0.3%,与Tc提升相关。小型台式多晶XRD在超导材料研究中可高效完成相鉴定、氧含量估算、掺杂效应分析等任务,尤其适合实验室日常合成质量控制。桌面型粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析
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