X射线衍射仪(XRD)是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器,通过测量衍射角与衍射强度,获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。
化学与化工:催化剂、电池材料的表征与优化在化学工业中,XRD是研究催化剂、电池材料、纳米材料等的关键工具。催化剂的有效性与其晶相结构密切相关,XRD可鉴定活性组分(如沸石、贵金属纳米颗粒)的晶型,并监测反应过程中的相变。在锂离子电池领域,XRD用于分析正极材料(如磷酸铁锂、三元材料)的晶体结构稳定性,优化充放电性能。此外,XRD还可测定纳米材料的晶粒尺寸(通过谢乐公式),指导纳米颗粒的合成与改性。 评估研究成岩作用相变。便携式X射线粉末衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在超导材料精细结构分析中的应用虽面临挑战(如弱信号、复杂相组成),但通过针对性优化,仍可为其合成、相纯度和结构演化研究提供关键数据支持。
铜氧化物高温超导材料(如YBCO、BSCCO)关键问题:氧含量控制:YBa₂Cu₃O₇-δ中δ值通过晶格参数(如c轴长度)反映。相纯度:区分超导相(正交相)与非超导四方相。台式XRD方案:高角度区扫描:聚焦于(00l)衍射峰(如005峰)精确测定c轴参数。原位退火附件:监测氧掺杂/脱附过程中的结构演变(需气氛控制)。案例:通过c轴变化反推δ值:c ≈ 11.68 Å(δ=0) → 11.80 Å(δ=0.5)。 便携式X射线粉末衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析采用高稳定性X射线管,寿命达20,000小时以上。
X射线衍射仪(XRD)是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器,通过测量衍射角与衍射强度,获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。
电子与半导体工业:薄膜与器件材料的分析在半导体和电子器件制造中,XRD用于分析薄膜材料的晶体质量、厚度和应力。例如,在硅基半导体行业,XRD可测量外延层的晶格匹配度,减少缺陷。在第三代半导体(如GaN、SiC)研究中,XRD可分析位错密度,提高器件性能。此外,XRD还可用于LED、太阳能电池等光电器件的材料表征,优化能带结构设计。
小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在刑事侦查物证分析中具有独特优势,能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息,为案件侦破提供关键科学依据。
***击残留物(GSR)分析检测目标:特征成分:PbSt(硬脂酸铅)、Sb₂S₃(三硫化二锑)***类型鉴别:Ba(NO₃)₂ vs Sr(NO₃)₂采样方案:粘取法收集嫌疑人手部残留,直接上机检测灵敏度:PbSt检出限:0.1μg/mm²(优于SEM-EDS)
文书与**鉴定应用方向:纸张填料分析:TiO₂(锐钛矿/金红石)、CaCO₃(方解石/文石)墨水成分:Cr₂O₃(绿色颜料)、Fe₃O₄(黑色墨水)案例:通过纸张中CaCO₃的晶型比例(方解石含量>95%),追溯**用纸来源
土壤与矿物物证地域溯源:黏土矿物组合(高岭石/蒙脱石比例)特征矿物:如案发现场独有的锆石变体技术方案:建立区域矿物数据库进行模式识别 便携式XRD通过其即时性(现场5分钟出结果)。
X射线衍射在能源行业中的应用:核燃料与燃料电池材料研究
核燃料材料研究(1)核燃料芯体表征铀/钚氧化物燃料:定量分析UO₂/PuO₂固溶体的晶格参数变化(如(U,Pu)O₂的萤石结构收缩率)检测辐照损伤导致的缺陷簇(衍射峰宽化分析)新型燃料体系:UN(氮化铀)与UC(碳化铀)的相纯度控制(避免U₂N₃杂质相)事故容错燃料(ATF)中SiC包覆层的结晶质量评估(2)辐照效应研究原位辐照实验:同步辐射XRD实时监测UO₂晶格肿胀(中子辐照模拟装置联用)裂变产物相鉴定(如Mo-Ru-Pd合金相的析出行为)辐照后检验(PIE):乏燃料中次生相的鉴别(如BaMoO₄、Cs₂UO₄)(3)核废料处理材料陶瓷固化体:验证钚玻璃固化体的非晶态程度(如硼硅酸盐玻璃的短程有序结构)检测Synroc(钛酸盐陶瓷)中ZrTiO₄等稳定相的生成地质储存研究:分析膨润土缓冲材料(蒙脱石)在辐射下的层间收缩 分析陶瓷器烧制工艺。便携式X射线粉末衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
野外快速鉴定矿石矿物组成(如区分石英与方解石)。便携式X射线粉末衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析
小型台式多晶XRD衍射仪在残余应力测量方面的行业应用虽受限于其精度和穿透深度,但在多个领域仍能发挥重要作用,尤其适合快速筛查、质量控制和小型样品分析。
制造业(金属加工与机械部件)应用场景:焊接残余应力
增材制造(3D打印)应用场景:金属/陶瓷打印件的层间应力分析,优化打印参数(如激光功率、扫描速度)。检测支撑结构去除后的残余应力集中区域。挑战:多孔或粗糙表面需抛光,可能引入额外应力。各向异性材料需多方向测量。案例:钛合金(Ti-6Al-4V)打印件的应力分布与后热处理工艺关联性研究。 便携式X射线粉末衍射仪应用于金属材料晶粒结构分析