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特教学校教学仪器设备清单

来源: 发布时间:2024年10月28日

影像测量仪是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上**控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个设备的主体。它能快速读取光学尺的位移数值,通过建立在空间几何基础上的软件模块运算,瞬间得出所要的结果;并在屏幕上产生图形,供操作员进行图影对照,从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。

影像测量仪是一种由高解析度CCD彩色镜头、连续变倍物镜、彩色显示器、视频十字线显示器、精密光栅尺、多功能数据处理器、数据测量软件与高精密工作台结构组成的高精度光学影像测量仪器。 教学仪器设备器材厂家。特教学校教学仪器设备清单

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大气采样器是一种用以采集各种有害气体的常用仪器。它***适用于大气环境监测、卫生防疫、劳动保护、科研、教学等单位使用,可供各中、小学校开展课外环境监测活动的教学配备,同时适用于野外的大气污染监测和车间矿山的卫生调查之用。通过对采样气体分析,以了解环境被有害气体破坏的程度,并向有关主管部门提供污染的实际情况,以采取对策,从而保障人们有个健康的生活环境。

本仪器采用微电脑控制技术,采样时间精确,用高亮数码管显示,观察直观清晰。为便携带式采集大气中的二氧化碳、二氧化硫样品之用。该仪器结构紧凑、性能稳定、体积小、重量轻、便于携带,是目前国内小型携带式大气采样仪器中较为理想的仪器。调换不同的采样负载,配不同的吸收方法,采样的仪器能做到一机多用。 特教学校教学仪器设备清单少年宫兴趣班教学仪器.

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光学仪器是由单个或多个光学器件组合构成。光学仪器主要分为两大类,一类是成实像的光学仪器,如幻灯机、照相机等;另一类是成虚像的光学仪器,如望远镜、显微镜、放大镜等。


光学仪器是仪器仪表行业中非常重要的组成类别,是工农业生产、资源勘探、空间探索、科学实验、**建设以及社会生活各个领域不可缺少的观察、测试、分析、控制、记录和传递的工具。特别是现代光学仪器的功能已成为人脑神经功能的延伸和拓展。

伴随着下游应用领域需求的日益增长,近年来国内光学仪器制造行业市场规模也呈现快速扩张态势。截至2010年年末,我国光学仪器制造行业规模以上企业有395家。2010年全国累计生产光学仪器3008.53万台,同比增长25.45%,增幅比上年同期上升了35.99个百分点;年内全行业实现销售收入531.67亿元,同比增长19.26%。

在我国光学仪器市场上,跨国企业的进入与成功已成为不可争辩的事实,国际***厂家纷纷将其产品打入中国市场。国内虽有一些企业逐渐崛起,在光学仪器制造市场上占据了较为**的地位,但是多数企业研发能力差,与国外同行相比,**产品在技术上仍处于劣势。


钟表模型 演示用,两针,非联动,12时表示

钟表模型 演示用,三针,联动,12时表示

钟表模型 演示用,三针,联动,24时表示

钟表模型 学生用,两针,非联动

钟表模型 学生用,三针,联动

几何形体模型 长方体(一般和特殊)、正方体、实心圆柱、空心圆柱、圆锥体(等底等高、等底不等高、等高不等底)、球等

厘米立方块 每块为单色,颜色种类不少于2种,10mm×10mm×10mm,30个

几何形体表面积展开模型 长方体、正方体、圆柱体

圆面积、圆周率计算公式推导演示模型 φ200mm



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光学影像投影

光学影像投影仪是触摸屏与影像量测技术的完美结合的高科技产品,与传统的投影仪器相比,仪器所有的人机交互窗口基本都在触摸屏上实现。整个功能按钮富于人性化设计,使得整个机器操作简单,功能实用。与投影仪和影像量测仪相比,极大的简化了操作,同时在复杂的量测操作中,每一步都提供了简明的帮助图片,引导用户进行量测,测量的每个步骤都在信息提示栏里面有提示,使得仪器操作非常容易。

工具显微镜

工具显微镜又称工具制造用显镜,是一种工具制造时所用高精度的二次元坐标测量仪。它是利用光学原理将工件成像经物镜投射至目镜,即借着光线将工件放大成虚像,再利用装物台与目镜网线 (eyepiece reticle) 等辅助, 以作为尺寸、角度和形状等测量工作,可作为检验非金属光泽的工件表面。 中学生物包埋浸制标本教学仪器。特教学校教学仪器设备清单

一般多媒体教室会配置哪些主要教学仪器设备?特教学校教学仪器设备清单

折叠测厚原理两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。

激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏***、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏***的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化,两者之间的关系:

式中:

X、X`--分别是被测物位移和光敏器件上像斑的位移;

L、L`、α--是系统的结构参数,是根据具体使用要求而选定的。

由此可见精确地测量X`就可以得到被测物体的位移量,这就是三角法测量位移的原理。 特教学校教学仪器设备清单