一般为学校以及教育单位提供教学服务的仪器设备我们称之为教学仪器设备,还被广泛应用于教学仪器设备应用于教学和科研研究单位中。
根据不同课程用途可以分为:科学仪器、物理实验仪器、化学实验室仪器、生物教学仪器等
根据使用场景领域的教学仪器可以分为实验室仪器和实训实操两大类。
教学仪器实验设备具有教学应用特点,体现教学指导思想,在教学实践中使用教学模型和实验实物**直观教学设备,是学校办学的基本配备标准。
在以实验为主要方式的课程学习中,通过教学仪器能够直观的体现自然现象与物质的变化规律,让学生从自然变化的规格中体会的抽象的理论认识上升到具体的直观认识,是教学学习的重要方法。
教学仪器在教学实践中对开发挖掘提升学生的智力水平,培养**思考的创新精神,建立自身科学的思维方法,提高社会认知能力,培养实践能力,具有非常重要意义。 少年宫兴趣班教学仪器.龙华学校教育教学仪器设备清单
光学计量仪器:数字化影像测量仪、激光测厚仪、量具、光学影像投影仪、激光抄数仪、全自动影像测量仪、工具显微镜、三坐标测量仪、全自动光学测量仪;
光学检测仪器:光学检测仪、X射线检查、数码光学检查仪、返修工作台、在线检测影像仪;
显微仪器:CCD显微镜、偏光显微镜、珠宝显微镜、标本、金相显微镜、生物显微镜、比较显微镜、荧光显微镜、倒置显微镜、体视显微镜、工业高倍显微镜;
图像软件与器件:普及版软件、CCD器件、金相分析软件、USB转换器、显微测量软件、测微尺、影像测量软件、摄相机;
机器视觉器件:工业相机、视觉软件、运动控制与平台、视觉光源与镜头、视觉镜头、图像采集卡;
多媒体显微互动:数码显微系统、多媒体显微互动、电子目镜及软件;
光学机具:位移台、底板、适配器、光纤调整架、杆架、万相支架、调整镜架、滑轨、夹具、狭缝、光学平台、 配件;
金相与硬度计:硬度计、显微硬度测量、金相试样工具; 东莞义务教育教学仪器设备生产厂家教学仪器 教学教具 教学演示仪器。
教学仪器设备的日常维护、保养是设备技术管理的重要环节,其目的是为了延长仪器设备的使用寿命,保持其良好的性能及精度,保证仪器设备正常运转的预防性、保护性措施,是保障实验室教学和科学研究正常、顺利进行的基础。教学设备需要厂家介绍到现代化设备逐步到了或超过了使用保养的时限,由于受了不坏就能使用,坏了才去修传统思维方式,错过了保养的黄金时间,如不抓紧时间搞好维护保养,大量的维修费用会使学校叫苦不迭,到那时亡羊补牢完矣。在此我提醒学校定期维护投影机的重要性。学校总务主任是一所学校的内当家,掌握一定的现代化教育教学设备的管理和保养维护是当好一个总务主任的必不可少的能力。
折叠测厚原理两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。
激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏***、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏***的光敏上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化,两者之间的关系:
式中:
X、X`--分别是被测物位移和光敏器件上像斑的位移;
L、L`、α--是系统的结构参数,是根据具体使用要求而选定的。
由此可见精确地测量X`就可以得到被测物体的位移量,这就是三角法测量位移的原理。 中小学理科教学演示仪器设备。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更精细,不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
* 精度高、无辐射、安全性能好。
* 测量范围大(0-750mm)。
* 响应快速、不受被测目标材质影响。
* 实时厚度曲线显示、绘制,历史厚度曲线储存。
* 全数字系统,使用方便,易操作,维护简单。
* 炉号、钢号、坯号、班号、检测时间与MIS系统连接自动生成日报、班报。
* **度C型架设计,自带高温防护措施,既保证了强度又保证了使用寿命。
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影像测量仪软件种类
二次元测量仪软件在国内市场中种类比较多,从功能上划分主要有以下两种:
二次元测量仪测量软件与基本影像仪测量软件类似,其功能特点主要以十字线感应取点,功能比较简单,对一般简单的产品二维尺寸测量都可以满足,无需进行像素校正即可直接进行检测,但对使用人员的操作上要求比较高,认为判断误差影响比较大,在早期二次元测量软件中使用***。
2.5D影像测量仪在影像测量领域我们经常可以听到二次元、2.5次元、三次元等各种不同的概念,所谓的二次元即为二维尺寸检测仪器,2.5次元在影像测量领域中是在二维与三维之间的一种测量解决方案,定义是在二次元影像测量仪的基础上多加光学影像和接触探针测量功能,在测量二维平面长宽角度等尺寸外如果需要进行光学辅助测高的话提供了一个比较好的解决方案。
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