氧化锌可以应用于病毒载体制剂,并且病毒颗粒大小和病毒聚集对基于病毒的生物制品的下游加工、配方和混合有着巨大的影响此款设备在有关工艺优化和产品质量等重要问题上有重要的参考价值。CPS纳米粒度分析仪可以直...
光学系统,用于聚焦和反射荧光光谱。它主要由透镜、反射镜等光学元件组成。这些元件的作用是将散射的荧光光谱聚焦成一个或多个焦点,并将其传递到探测器中进行测量。探测器,用于接收和测量荧光光谱。它通常采用半导...
高精度测量,采用先进的探测器和数据分析技术,可以获得高精度的测量结果,误差较小。无需样品制备,通常不需要对样品进行复杂的制备和处理,可以直接测量未经处理的样品。可重复性好,由于采用非破坏性方法进行测量...
在使用溶解氧在线分析仪之前,需要进行相应的安装。一般情况下,设备需要安装在一个稳定的工作台面上,并根据安装说明固定安装。同时,设备的电源、水质流速、气路、电路等都需要进行连接。在连接时需注意仪器所需的...
CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展,电子器件尺寸缩小,要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分,其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分...
研磨液中的化学成分与硅片表面材料产生化学反应,将不溶的物质转化为易溶物质,或者将硬度高的物质进行软化,然后通过磨粒的微机械摩擦作用将这些化学反应物从硅片表面去除,溶入流动的液体中带走,即在化学去膜和机...
升降台式样品池送进定位及环境光遮蔽系统,使光子相关谱探测系统不只体积小,而且具有很强的抗干扰能力。高精度的测试温度控制系统:单独的循环温控槽可在2-95℃范围内任意设定,其控制精度达0.1℃。微量样品...
技术优势:CPS系统优良性能的基础是它先进的示差沉降技术。高转速:CPS可以支持的较高转速为24,000转/分。对于超细颗粒,其分析速度比其它产品快倍。使用速度调节技术,可以对粒度分布范围较广的样品进...
这个关系可以用散点图显示,用以观察样品粒径和形状之间的关系。形状过滤功能可以根据粒径或形状特性放大观察样品的特定部分。可以根据数据挖掘,对比分析粒度粒型数据分析,给除对比图与表格。图像分析软件的特征:...
印刷和涂料,涂料:水基和油基涂料,微纤维涂料粘度改性剂,打印机/复印件墨粉,喷墨打印机墨水,炭黑,磁性材料。半导体:微磨料,CMP化学机械抛光。其他:纳米微球,淀粉/面粉颗粒,颗粒团聚模式分析,标准颗...
提供数量、面积和体积等指标的平率分布图和表、累计分布图和表格粒度和粒型参数分布的结果;能够自动产生实验结果world报告。激光和视频分析产生的信息,很容易通过直观的数据报表软件得到。测量结果可以各种表...
光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。算法:采用除符合GB/T19627-2005/IS013321:1996标准的累积法外,还有R-R算法,可以算出纳米粒子样品的D50、D10及...
仪器的主要参数为:测量范围:0.005-75μm,光源:405nmLED,旋转速度可选:12.000RPM、18.000RPM、24.000RPM,标准分析圆盘:CR-39聚合物(耐有机溶剂和水溶液)...
对于粒径分布范围很宽的样品,通过可选的速度调节功能圆盘,只需常规圆盘分析时间的1/20。经过CPS纳米粒度仪对裂解后炭黑进行粒径测试后的结果所示:与扫描电镜所显示的结果基本一致,裂解后的炭黑较小粒径为...
光电探测器阵列由一系列同心环带组成,每个环带是一个单独的探测器,能将投射到上面的散射光线形地转换成电压,然后送给数据采集卡,该卡将电信号放大,再进行AID转化后送入计算机。激光粒度仪依据全量程米氏散射...
各种金属粉体:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。其它粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。在现代装备制造业中的...
测量低密度颗粒:示差沉降法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度的颗粒,CPS开发了一项新的技术技术(US Patent5,786,898)。很多用常规示差沉降法很难或者不可能分析的材料(例如油乳液...
测量低密度颗粒:示差沉降法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度的颗粒,CPS开发了一项新的技术技术(US Patent5,786,898)。很多用常规示差沉降法很难或者不可能分析的材料(例如油乳液...
CPS纳米粒度分析仪操作权限和文件存取安全设置;屏显离心转速控制;高级数据分析功能,包括噪声过滤和分辨率加强。样品应用:地质学,土壤、粘土、沙、高岭土;环境;制药/生化;化学,杀虫剂、分散剂、催化剂、...
CMP浆料粒度分析的难点在于必须在抛光过程中全浓度条件下快速测定平均颗粒直径和粒度分布,因为稀释可能导致浆料稳定性和粒度的变化(比如进一步的团聚或解聚),另外在稀释后的浆料中很难检测本来就较少量的团聚...
符合多项油品S元素分析国际和国家标准,例如ASTM D4294,ASTM D7212,GB/T 17040,GB/T 17606等。X射线管能耗低、只15W,使用寿命长达数十年。低背景硅“漂移”检测器...
光电探测器阵列由一系列同心环带组成,每个环带是一个单独的探测器,能将投射到上面的散射光线形地转换成电压,然后送给数据采集卡,该卡将电信号放大,再进行AID转化后送入计算机。激光粒度仪依据全量程米氏散射...
因此,需要对其粒径的分布进行测试。而目前对炭黑的粒径测量方法为差速沉淀法。由于常用的炭黑粒径比较均匀,在测试时粒径的分布常呈现正态曲线分布,但在裂解后炭黑中混有橡胶纤维,导致粒径变大,不同粒径炭黑的含...
驰光机电小编温馨提示:为了准确地测量颗粒直径,EyeTech必须区分在焦点中心的和离开焦点中心的交互作用,因为只有在焦点中心的交互信号才能提供真实的颗粒直径。这个可以采用脉冲形状过滤器可以实现。只有衍...
CPS分析仪基本原理:CPS纳米粒度分析仪依据Stokes定律,V=D²(ρP-ρF)G/18η,即颗粒沉降的速度与颗粒的尺寸平方成正比来进行粒度的测量。待测样品从圆盘中心进入高速旋转的圆盘,在离心力...
如果能够对催化剂元素含量(钴、锰和溴Br)进行连续在线分析,可以更好地控制工艺,提高产品质量和增加产量。C-Quand在线EDXRF分析仪:利用 C-Quand在线EDXRF分析仪对钴、锰、溴三种催化...
印刷和涂料,涂料:水基和油基涂料,微纤维涂料粘度改性剂,打印机/复印件墨粉,喷墨打印机墨水,炭黑,磁性材料。半导体:微磨料,CMP化学机械抛光。其他:纳米微球,淀粉/面粉颗粒,颗粒团聚模式分析,标准颗...
一般离心式分析仪的动态范围为40,但是CPS系统的动态范围可以超过1000。过去很多需要消耗整夜时间而且低精度的测量,现在可以使用示差沉降法快速测量,而得到高精度的结果。低噪声光源/检测头:CPS纳米...
CPS纳米粒度分析仪测量参数:粒径、粒形和浓度;粒径范围:0.1-3600μm;浓度范围:高达109颗粒/cm3(对1μm颗粒);供样方式:液体、干粉、表面;系统规格/重量电源:665L×280W×1...
CMP浆料粒度分析的难点在于必须在抛光过程中全浓度条件下快速测定平均颗粒直径和粒度分布,因为稀释可能导致浆料稳定性和粒度的变化(比如进一步的团聚或解聚),另外在稀释后的浆料中很难检测本来就较少量的团聚...