为实现大范围、高效率监测，Specim开发了轻量化无人机载高光谱系统（如SpecimAFX系列），集成于多旋翼或固定翼无人机。系统总重可控制在2kg以内，功耗低，支持RTK定位与IMU姿态补偿，确保影...

秒速非接触膜厚仪是一种精密测量设备，专为快速、无损地测定各类薄膜厚度而设计。其重点在于“非接触”特性，即无需物理接触样品表面，避免了传统接触式探针可能造成的划伤或变形，尤其适用于脆弱材料如光学镀膜、半...

影像测量仪在汽车制造业中扮演着质量保障的关键角色，尤其针对高精度、高安全性的零部件检测。随着新能源汽车的普及，电池极片、电机转子和刹车盘等部件的尺寸公差要求日益严苛（通常需控制在±5μm内）。例如，在...

SCI（包含镜面反射光）与SCE（排除镜面反射光）的机械切换是柯尼卡美能达的重点技术特征。CM-3700aplus通过物理机构切换测量模式，SCI模式将表面状态影响较小化，适用于材料配色的本质颜色分析...

部分高级非接触式膜厚仪具备多角度入射测量功能，尤其适用于各向异性或具有光学取向的薄膜材料。例如，在液晶取向层、增亮膜、防眩膜等光学元件中，材料的折射率随入射角变化而变化。通过在多个角度（如45°、55...

柯尼卡美能达分光测色仪CM-36DG是一款专为高精度色彩测量设计的先进仪器，频繁应用于涂料、塑料、纺织、印刷、食品等多个行业。该设备采用双光束光学系统，能够在不受到光源波动影响的情况下提供稳定可靠的测...

秒速非接触膜厚仪正从工业产线走入高校实验室，成为科研教育的“加速引擎”。在材料科学教学中，学生常因接触式仪器操作复杂而畏惧实践；而该设备的触摸屏界面和0.5秒测量速度，使本科生5分钟内完成纳米薄膜实验...

在半导体产业，秒速非接触膜厚仪已成为晶圆加工不可或缺的“眼睛”。芯片制造涉及数十层薄膜沉积，如栅极氧化层（厚度1-3纳米）或铜互连层，任何微小偏差都会导致电路失效。传统接触式测量需停机取样，耗时且破坏...

非接触膜厚仪的测量精度与适应性是其主要优势，可覆盖从纳米级到毫米级的频繁厚度范围。高级光学类设备（如光谱共焦膜厚仪）分辨率可达0.01μm，重复性精度≤0.1μm，满足半导体晶圆、光学镀膜等领域的超精...

高光谱相机的硬件系统由光学前端、分光模块、探测器及数据处理单元四部分构成。光学前端采用高透射率镜头，确保不同波段光信号高效聚焦；分光模块是重点技术差异点：光栅型通过衍射光栅分光，光谱分辨率高但体积较大...

现代非接触式膜厚仪不只提供测量结果，还需具备强大的数据管理与系统集成能力。设备通常支持USB、RS232、Ethernet、Wi-Fi等多种接口，可将原始光谱、厚度值、统计报表等数据导出为CSV、Ex...

柯尼卡美能达分光测色仪的重点技术优势源于其精密的光学架构设计。不同系列虽应用场景各异，但均基于国际标准化的几何光学结构：台式机CM-3700aplus采用d/8（漫射照明，8°方向接收）系统，符合IS...