Wafer晶圆背面金属化层检测中，超声扫描技术突破传统局限。传统涡流检测*能检测金属层表面缺陷，而超声技术通过发射低频超声波（1M...

超声扫描仪可检测晶圆键合界面的空洞缺陷。晶圆键合是半导体先进封装制程关键工艺，键合界面若存在空洞，会影响芯片性能和可靠性。空洞会使...

超声扫描仪检测晶圆面临高频超声波产生难题。为提高检测分辨率，需要使用高频超声波，但高频超声波产生难度较大。高频超声波对换能器材料和...

超声扫描显微镜对环境湿度的要求是什么？解答1：超声扫描显微镜对环境湿度有明确要求，一般需控制在40%至60%的相对湿度范围内。湿度...

SAM 超声显微镜的透射模式是专为特定场景设计的检测方案，与主流的反射模式形成互补，其工作原理为在样品上下方分别设置发射与接收换能...