在产品投入使用后,可靠性分析继续发挥着重要作用。通过收集和分析运行数据,工程师可以监控系统的实际可靠性表现,及时发现并处理潜在问题。例如,通过定期的可靠性测试和检查,可以识别出逐渐老化的组件,提前进行...
上海擎奥利用先进的材料分析设备,对 LED 失效过程中的材料变化进行深入研究,为失效原因的判定提供科学依据。在分析过程中,团队会对 LED 的芯片、封装胶、支架、焊点等材料进行成分分析、结构分析和性能...
LED 封装工艺对产品的性能和可靠性有着很重要的影响,上海擎奥针对 LED 封装工艺缺陷导致的失效问题开展专项分析服务。团队会对封装过程中的各个环节进行细致排查,如芯片粘结、引线键合、封装胶灌封等,通...
在 LED 失效的寿命评估方面,上海擎奥创新采用加速老化与数据建模相结合的分析方法。针对室内 LED 筒灯的预期寿命不达标的问题,实验室在 85℃高温、85% 湿度环境下进行加速老化试验,每 24 小...
在传感器引线键合的可靠性测试中,金相分析可实现微观级别的质量管控。擎奥检测采用高精度研磨技术,对压力传感器、温度传感器的金线键合点进行截面制备,清晰展示键合球与焊盘的接触面积、键合颈部的弧度等关键参数...
在光伏组件的汇流带焊接质量检测中,金相分析可精细识别潜在缺陷。上海擎奥通过对光伏电池片与汇流带的焊接部位进行截面分析,能观察焊锡的润湿状态、是否存在虚焊或焊穿等问题。这些微观缺陷往往是导致光伏组件功率...
在设备运维阶段,可靠性分析通过状态监测与健康管理(PHM)技术,实现从“定期维护”到“按需维护”的转变。例如,风电场通过振动传感器、油液分析等手段,实时采集齿轮箱、发电机的运行数据,结合机器学习算法预...
在芯片制造的晶圆级封装环节,上海擎奥的金相分析技术为排查封装缺陷提供了精细视角。技术人员对晶圆切割道进行金相切片,通过高分辨率显微镜观察切割面是否存在微裂纹、残留应力痕迹,这些微观缺陷可能导致芯片后期...
擎奥检测的可靠性工程师团队擅长拆解 LED 模组的失效链路。当客户送来因突然熄灭的车载 LED 灯样件时,工程师首先通过 X 射线检测内部金线键合是否断裂,再用切片法观察封装胶体是否出现气泡或裂纹。团...
可靠性分析是通过对产品、系统或流程的故障模式、失效机理及环境适应性进行系统性研究,量化其完成规定功能的能力与风险的科学方法。其本质是从“被动修复”转向“主动预防”,通过数据驱动的决策降低全生命周期成本...
可靠性试验是验证产品能否在预期环境中长期稳定运行的关键环节。环境应力筛选(ESS)通过施加高温、低温、振动、湿度等极端条件,加速暴露设计或制造缺陷。例如,某通信设备厂商在5G基站电源模块的ESS试验中...