Brolight杭州博源光电科技有限公司的测量系统产品型号：【BIX-8801,LD/LED光源测量系统】应用于激光二极管测试研究;垂直腔面发射激光器测试;单波长发光二极管测试;宽带光源光谱特性测试研究。【BIX-8805,辐照度测量系统】应用于紫外标准检测计量;LED光辐射安全测量;植物生长/PAR/植物光生物学;紫外线固化系统的表征;光稳定性测量;光谱反射率/吸光度/透过率测量;荧光测量。【SIX-8001,红外辐射测量系统】应用于电路板热分析；微米级元器件检测；材料应力温升分析；化学反应温度分析；化工工艺温度监测。【BIX-8811,反射率测量系统】应用于物质/材料的镜面反射测量；物质/...

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透过率测量系统 【概述】光谱透过率是指从光学系统出射的光强与入射光学系统的光强之比，反映了整个光学系统的光强损耗情况。透明、半透明物体（包括液体、固体等）的光谱透过率的测量具有重大的现实意义和应用价值，例如根据滤光片的光谱透过率来评价滤光片的质量好坏；玻璃透过率是检测玻璃合格与否的重要指标；医疗卫生、工业生产、化工合成等领域中液体的透明性检测。与传统实验测定透过率相比，以光谱仪为关键搭建的光谱套件，其测试简单高效，实验结果精确可靠，使科研人员脱离了繁杂的实验操作，减少了人为误差。同时，还可以根据不断变化的实验需求变换设备布局；不断升级的实验操作和应用使得现在和将来的多种实验应用成为可...

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辐照度测量系统 【概述】由光谱仪、光纤、余弦矫正器、支架组成。其中光谱仪通过光纤与已知表面积的余弦校正器连接，整套系统通过NIST可溯源标准光源进行辐射定标，可以实现UVA、UVB、UVC等各波段的紫外线强度检测，以及特定波段内辐照度、辐射通量、辐射强度等一系列参数的精确测量。装置测试简单，使用方便，可广泛应用于紫外消毒灯，紫外荧光灯辐照强度测定、LED光辐射安全测量等研究领域。 【特点】~操作简便、重复性好、检测快速。~体积小、便于携带。~NIST可溯源认证的校准。~波长范围包括200-450nm紫外波段，紫外灵敏度更高。~软件兼容XP,Windows7,Windows8,W...

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LD/LED光源测量系统 【概述】LD和LED是较常见的半导体光源，在工业和科研领域都有着广泛的应用，其光谱特征和功率数值是重要的性能指标。BIX-8801系统提供了光源驱动、器件安装、光采样和传导、光谱和光功率测量等所有涉及的组件。系统包含了以电流驱动控制、温度驱动控制和器件安装组件为关键的解决方案，电流驱动控制器和温度驱动控制都可以提供多种规格，为LD和LED器件的研究提供相匹配的设备支撑。 【特点】~选配件丰富，可按需配置。~模块化设计，集成灵活方便。~平台化软件，支持所有设备。~支持多维数据同步分析。 【应用】~半导体发光器件研究。~光电材料特性研究。~激光系统驱...

LD/LED光源测量系统 【概述】LD和LED是较常见的半导体光源，在工业和科研领域都有着广泛的应用，其光谱特征和功率数值是重要的性能指标。BIX-8801系统提供了光源驱动、器件安装、光采样和传导、光谱和光功率测量等所有涉及的组件。系统包含了以电流驱动控制、温度驱动控制和器件安装组件为关键的解决方案，电流驱动控制器和温度驱动控制都可以提供多种规格，为LD和LED器件的研究提供相匹配的设备支撑。 【特点】~选配件丰富，可按需配置。~模块化设计，集成灵活方便。~平台化软件，支持所有设备。~支持多维数据同步分析。 【应用】~半导体发光器件研究。~光电材料特性研究。~激光系统驱...

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BIX-8811反射率测量系统 【概述】反射率是物质/材料的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美平整表面上的反射是镜面反射，在毛糙表面上的反射是漫反射，而光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，也可以测量分析物体的反射的颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，可采用光纤进行取样测量，而对于曲面样品，采用积分球取样测量更为合适。 【特点】~样品放置方便，夹具要求不高。~操...