闪测仪测量更准确采用双倍率双侧远心光学镜头,具有较高的远心度,即使有段差情况下也能高精度正确的测量。倍率涵盖0.16X大视野/0.7X高精度。一键测量闪测仪是一种新型的影像测量技术,它和传统的二次元影...
MIDA探针应用的辅助程序,可为每类机床以及带有各种附件的每类客户规范定制马波斯配件系统。正确测量在很大程度上取决于探针接近零件以及精确触及到接触点的能力。马波斯在设计探针方面有着丰富的经验,其旨在为...
工艺与质量控制减少拒收件数量设计紧凑结构坚固以及对周围环境条件忍耐很强抗光干扰每个应用程序可按顺序处理4个测头与双主轴应用兼容0.5μm(2σ)的可重复性。VOP40L有两个版本:VOP40L紧凑型:...
统计过程控制(SPC)和质量控制软件:QuickSPC™是一套软件系统,其设计符合任何SPC/质量控制的要求。功能从简单的测量值一直到复杂的测量应用。因为它的架构简单、结果导向以及通用型用户界面,所以...
颠覆传统激光三角测距法,3D尺寸精密测量方案提供者线激光位移传感器高场度高性价的线激光位移器,操作简单易懂出厂时已作标定,用户开箱即用,重新定义3D视觉,让3D相机的使用和2D相机一致非接触式晶圆厚度...
多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放,多个产品可同时测量,**节省测量时间,减少用工成本!低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量,图像畸变也很小,无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有...
多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放,多个产品可同时测量,**节省测量时间,减少用工成本!低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量,图像畸变也很小,无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有...
什么是光谱共焦干涉仪?非接触式轮廓测量技术中的测量精度通常受到机械振动和微扫描台位置不准确性的限制。为了从这些环境干扰中解放出来,开发了一种新的对振动不敏感的干涉测量方法。采用这种新型光谱共焦干涉仪系...
在半导体行业应用:LED芯片三维测量LED晶圆光学检测BGA半导体封装光伏晶圆表面形貌测量涂层厚度时与部件无任何接触。激光和红外传感器可分析2至50厘米距离的涂层。这意味着可以在工业涂层环境中测量部件...
部分案例应用领域:非常适合测量距离、半径、角度、弧度等尺寸的检测。适用于电子、机械加工、五金、塑料加工、汽车等行业。常见的工件包括冲压成型件、注射成型件或激光切割件。一键测量闪测仪是一种新型的影像测量...