湖南反射测量专谱光电测量系统

低温度漂移温度漂移：专谱光电的激光器系统具有低温度漂移特性（<0.007 nm/°C），这对于需要在不同环境温度下工作的实验非常有利。5. 高边模抑制比边模抑制比：激光器的边模抑制比优于 40 dB（60 dB 可选），这有助于减少光谱中的杂散信号，提高测量的准确性。6. 操作便捷性操作便捷：激光器系统设计简洁，操作方便，包含上位机控制、急停开关、短接保护等功能，确保实验的安全性和便捷性。7. 多种波长选择波长选择：专谱光电提供多种波长的激光器，如 532 nm、785 nm 和 1064 nm，适用于不同的应用需求。光源：如钨灯光源，用于反射光谱测量。 显微光谱测量模块：集成了荧光、拉曼和反射光谱测量功能。湖南反射测量专谱光电测量系统

专谱量子效率测试系统是一种用于测量光电器件和材料量子效率的高性能设备。它广泛应用于太阳能电池、光电探测器、LED、光电器件的研发和质量控制。以下是其主要特点和功能：专谱量子效率测试系统凭借其高灵敏度、自动化控制和***的测量功能，成为科研、工业和环境监测等领域的理想选择。其在太阳能电池、光电探测器、半导体材料、显示技术、激光器和光通信等多个领域的应用，展示了其强大的性能和灵活性。随着技术的不断进步，量子效率测试系统将继续在高精度量子器件性能评估中发挥重要作用。湖南反射测量专谱光电测量系统偏振比的激光可以提高光学系统的性能和精确性。例如，一些激光器的偏振比为 100:1。

测试软件**测试软件，适配于可变光强光致发光量子效率测试操作，包含测试和计算软件，内置了匹配系统结构的数学模型和计量算法，提供准确的结果，流程及向导化的操作方法，保证操作者***的使用体验。功能：激发光谱测量发射光谱测量ELQY计算色坐标定位激发光功率和PLQY的曲线支持多台光谱仪连用多种数据格式输出，方便处理测试记录清晰，易于整体分析向导式辐射定标，化繁为简，NIST溯源，保证系统的准确性应用领域半导体发光二极管量子点发光器件微型LED发光器件有机发光材料和器件钙钵矿发光材料和器件

光谱范围：系统覆盖 250-2500 nm 的光谱范围。角度分辨率：系统提供高达 0.01° 的角度分辨率。自动测量功能测量模式设置：用户可以通过软件设置测量模式（如反射、透射、散射等），系统将自动完成测量。角度范围设置：用户可以设置入射角和接收角的范围，系统将自动扫描并记录数据。循环测量：系统支持循环测量，用户可以设置循环次数，系统将自动重复测量。积分时间设置：用户可以设置积分时间，系统将自动调整以优化测量结果。ProSp 角分辨测试系统凭借其高角度分辨率、全光谱测量能力和多种测量模式，成为材料科学和光学研究中的理想选择。405 荧光激光器 主要特点：操作简单，耦合效率高，使用寿命长，可实现TTL调制。

对于传统积分球式的光致发光及电致发光量子效率测试系统，我们使用积分球收集电致发光器件的发射光，光谱仪分析其强度，根据不同波长计算其光子数，根据发射光子数与经过器件的电流载流子数的比值，我们可以计算出样品的电致发光量子效率 EQE 。因此，针对于不同发光强度及样品区域的需求， 我们开发了这套 ProSp-ELQY 电致发光量子效率测试系统。ProSp-ELQY电致发光量子效率测试系统可变光强量子效率测试系统以模块化思路设计，适合手套箱内使用，应对无论是OLED，QLED，PeLED发光器件，可在器件制备的全流程中进行器件测试，测试系统经过可溯源的光源进行定标，能够进行准确的***量子产率，色度，和光谱测量。LBIC光谱测量：可用于光电器件的光谱分析。正常显微镜功能：具备常规显微镜的观察功能。大连薄膜材料专谱光电网站

兼容性强：显微光谱模块可以集成到大部分通用的正置显微镜上，如舜宇、奥林巴斯等。湖南反射测量专谱光电测量系统

ProSp 角分辨测试系统自动测量参数ProSp 角分辨测试系统（ProSp-RTM-UV/VIS）能够自动测量多种参数，广泛应用于材料科学、微纳光学、生物技术和矿物分析等领域。以下是其自动测量的参数和功能：自动测量参数反射光谱：上反射：测量从样品表面反射的光谱。下反射：测量从样品背面反射的光谱。透射光谱：测量光通过样品后的透射光谱。辐射光谱：测量样品发出的辐射光谱。散射光谱：测量样品散射的光谱。荧光光谱：测量样品在激发光作用下发出的荧光光谱。角度依赖性参数：入射角：系统可以自动调整入射光的角度，范围为 0-270°。接收角：系统可以自动调整接收光的角度，范围为 0-360°。湖南反射测量专谱光电测量系统