超声波测厚仪

马波斯便携测厚仪低成本高性能，企业降本增效。它以非接触式无损无辐射检测为亮点，避免物料损耗与设备维护成本，同时凭借简易操作与灵活部署，大幅降低人工与集成成本。设备面密度量程 0–4000 g/m²，分辨率 0.01 g/m²，静态精度 ±0.04%（2σ），自动校准确保长期测量稳定，无需频繁校准投入。支持 5 个传感器同步部署，适配 220-550mm 薄材，OPC/UA 接口简化产线连接，24V 供电、ATEX 防爆与 CE 认证加持，在实验室与产线场景中，都能以更低成本实现高精度、高柔性的面密度（厚度）测量。马波斯测厚仪抗干扰性强，无视材料成分与颜色：测量结果取决于单位面积材料质量，不受材料化学成分影响。超声波测厚仪

马波斯超声波测厚仪安全精确、可靠采用非接触式、无损无辐射检测技术，避免电芯极片损伤与安全风险，同时以高精度传感器实现质控：面密度范围 0–4000 g/m²，分辨率 0.01 g/m²，静态精度 ±0.04%（2σ）；“面密度”是指卷材/箔材的质量除以其面积（平方米）。计量单位一般为gsm(克/平方米)。光谱共焦技术测量范围 2000 μm，横向分辨率 4.5 μm，精确还原极片几何细节。简单易用的一体化软件简化操作，220V AC 供电适配工业场景，符合 CE 认证（EN 2006/42），长期稳定运行，充分满足锂离子电池电芯高标准质量要求。超声波测厚仪卷材生产之选！马波斯超声波测厚仪，100% 质量控制，保障卷材生产一致性。

100% 全检金属箔卷材质量，马波斯超声波测厚仪作为无辐射测量技术的佼佼者，它以超声原理精确测量面密度与厚度，完全不受卷材化学成分或颜色影响，湿态、干态环境下均能稳定输出高精度数据。C 形 / O 形支架设计灵活适配宽幅与窄幅生产场景，非接触式检测模式避免物料损伤，同时保障操作员与环境安全。工业软件操作灵活且支持 OPC / UA 标准，可轻松集成量产线，搭配光谱共焦、激光等多技术传感器组合，满足严苛生产环境与高分辨率数据需求。广泛应用于PCB半固化片、MLCC贴片电容、锂电铝箔、铜箔、隔离膜、光学膜、纸张、医用纺织品等领域。

马波斯测厚仪安全、精确、高效 —— 马波斯薄膜薄材面密度（厚度）测量方案为企业创造长期价值。它以非接触式无损无辐射检测为基础，避免物料损耗与安全风险，适配 300-1100mm 薄材，面密度覆盖 0–4000 g/m²，（面密度”）是指卷材/箔材的质量除以其面积（平方米）。计量单位一般为gsm(克/平方米)。测厚仪分辨率 0.01 g/m²，静态精度 ±0.04%（2σ），稳定保障产品品质。自动校准功能减少人工维护成本，长期维持高精度测量；可扩展至 128 个传感器，灵活适配未来产能升级。多方案同步功能提升生产协同效率，OPC/UA 接口简化产线接入，同时具备 ATEX 防爆可用性与 CE 认证（EN 2006/42），完全符合工业安全与合规标准，是薄材薄膜生产领域的高性价比测量选择。马波斯超声波测厚仪，凭借其非接触无损测量、无辐射、超薄材高重复性精度优势，已成为精密制造的理想方案。

简单操作，精确质控 —— 马波斯 电池极片测厚仪让锂电极片分析更高效。它搭载一体化易用软件，直观呈现厚度、面密度等核心数据，无需复杂培训即可快速上手。集成面密度传感器与光谱共焦传感器，覆盖 0–4000 g/m² 面密度范围与 2000 μm 厚度测量需求，分辨率分别达 0.01 g/m² 与 4.5 μm，静态精度 ±0.04%（2σ），精确把控极片克重与几何参数。非接触式无损无辐射检测保障物料安全，马波斯超声波技术底蕴加持，可靠满足锂离子电池电芯生产的质量监控需求。马波斯测量测厚技术在量产线生产的全过程中达成高质量 标准，同时优先考虑高安全性。超声波测厚仪

可靠质量监控！马波斯超声波测厚仪，精确测量面密度（厚度），为卷材生产提供稳定质量保障。超声波测厚仪

马波斯超声波测厚仪多扫描同步，共点测量新境界针对薄膜厚度测量的复杂需求，我们的方案支持多个扫描方案的同步运行。通过高精度共点测量技术，无论是两台还是多台扫描方案，都能实现精确的共点测量，确保测量数据的全面性和准确性。这种多扫描同步的设计，不*提高了测量效率，更在复杂测量场景中展现了其独特的优势。 非接触无损，守护材料安全在测量过程中，我们深知被测材料的重要性。因此，我们的传感器方案采用了非接触式无损测量技术，完全避免了任何形式的辐射对被测材料的影响。这种温和的测量方式，不*保护了材料的原始性能，更确保了测量结果的客观性和准确性。对于需要严格保护的材料来说，这无疑是一个理想的选择。超声波测厚仪