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测量表面温度一般采用非接触红外高温计，必须注意在测量时需要调整红外热像仪所使用的发射率ε，发射率是材料及其表面状况的特性，采用不正确的发射率会产生明显的测量误差。有两种方法可以在静态表面上校准发射率，***个方法是使用接触式高温计测量温度，然后将红外高温计指向同一点并调整发射率，直到温度读数与接触式温度计的读数相同；第二个方法是在被测表面粘上黑胶布，或者涂上黑漆，然后用测得的温度校准红外高温计。常用特定温度下水泥窑系统表面发射率见表1。在电力行业，很早就将红外热像仪运用于设备的安全检。单晶炉红外热像仪销售

镜头是热像仪中一个很重要的部件，观看效果、视野范围是否受到局限都和镜头的大小有关，一般市面上的镜头大概是在14mm~75mm之间不等。热像仪的镜头镜片是专业镜片，不是传统的夜视仪或者普通望远镜使用的那种镜片。热像仪的镜片工厂采购时,是按重量多少克去进行购买的。比如F44的镜片成本大约就会在5000元左右。而小镜头成本大约只有几百元。更大的镜头成本会更贵。拥有75mm超大口径的物镜，让您在观看目标的时候视野宽广、不受局限，数码放大比较高可以达到16倍，不仅拉近观看目标的距离，还可以很清晰的识别。在同类热像仪当中，这款机器的镜头是比较大的美国FLIR红外热像仪市场价红外热像仪还有哪些应用？

红外热像仪的测量精度取决于多个因素，包括设备的技术规格、传感器的质量、环境条件等。一般来说，红外热像仪的测量精度可以达到±2°C或更高的精度。然而，需要注意的是，红外热像仪的测量精度可能会受到一些因素的影响，例如：距离因素：红外热像仪的测量精度通常是在一定的测量距离范围内进行评估的。如果距离目标过远或过近，可能会影响测量的准确性。温度范围：不同型号的红外热像仪具有不同的测量温度范围。在设备的工作温度范围之外进行测量可能会导致测量误差增加。环境条件：红外热像仪的测量精度可能会受到环境温度、湿度、大气条件等因素的影响。在极端的环境条件下，测量精度可能会有所降低。目标表面特性：不同材料的表面反射率和辐射率不同，这可能会影响红外热像仪的测量精度。对于具有低辐射率的目标，可能需要进行校正或使用特殊的测量方法。

红外热像仪可以检测各种类型的物体，包括但不限于以下几种：人体：红外热像仪可以检测人体的热量分布，用于人体热成像、体温检测、医学诊断等应用。建筑和设备：红外热像仪可以检测建筑物和设备的热量分布，用于建筑热效率评估、电气设备故障检测、机械设备运行状态监测等。自然环境：红外热像仪可以检测自然环境中的热量分布，用于气象观测、环境监测、火灾预警等应用。动物：红外热像仪可以检测动物的热量分布，用于野生动物观测、动物行为研究、猎物追踪等应用。汽车和交通：红外热像仪可以检测汽车和交通工具的热量分布，用于车辆故障检测、交通监控、夜视驾驶等应用。红外热像仪能在苛刻的条件下指出材料特性并进行非接触式的温度测量。

nGaAs是由两种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料组成的三元系半导体化合物，它的带隙随组分比例的变化而变化。基于此材料制备的IR探测器，其响应截止波长可达到3μm以上，响应范围完全覆盖NIR波段，是该波段探测器团体里**重要的成员。在该体系下，其他化合物性能如下图所示：与其它的常用IR探测器相比，InGaAs探测器的兴起较晚，在上世纪80年代才开始走进人类的视野。近年来，得益于NIR成像的强势崛起，InGaAs的发展势头也十分迅猛。在实际生产中，一般将InGaAs材料生长在磷化铟(InP)衬底上，红外热像仪两者的晶格失配度也会随InGaAs组分的变化而变化。电力行业采用红外热像仪对输电线路和变电站进行定期巡检，预防电气故障。美国FLIR红外热像仪支架

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热电堆又叫温差电堆，它利用热电偶串联实现探测功能，是较为古老的一种IR探测器。以前，热电堆都是基于金属材料制备的，具有响应速度慢、探测率低、成本高等致命劣势，不受业内人士的待见。随着近代半导体技术的迅猛发展，半导体材料也被应用到了热电堆的制作中。半导体材料普遍比金属材料的塞贝克(Seebeck)系数高，而且半导体的微加工技术保证了器件的微型化程度，降低其热容量，因此热电堆的性能得到了**地优化。互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺的引入，让红外热像仪热电堆芯片电路技术实现了批量生产。单晶炉红外热像仪销售