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三坐标测量仪精密温控方案

来源: 发布时间:2025年09月22日

毫开尔文级控制:精密温控设备采用闭环气流循环系统,通过EC风机驱动气流以精密算法规划的路径均匀覆盖设备内部,实现关键区域温度波动控制在±2mK(静态),温度均匀性<16mK/m

动态响应机制:自主研发的高精密控温技术实现0.1%的控制输出精度,精密温控设备对外界环境变化实现毫秒级响应

洁净度标准:让尘埃无处遁形超越传统的洁净标准:精密温控设备通过多层高效粒子过滤器与动态气流管理,工作区洁净度达ISOClass3标准及以上,远超传统实验室的ISOClass5标准

微粒拦截:精密温控设备可拦截直径0.3μm的尘埃颗粒,杜绝因微粒污染导致的集成电路短路或光学传感器失效智能生态:看得见的稳定,可追溯的精zhun

环境“心电图”:精密温控设备智能监控系统自动生成带时间戳的温湿度曲线报告,支持一键导出,满足ISO17025等国际标准对数据完整性的要求

静音护航:精密温控设备采用EC风机与高效隔音材质,运行噪音<45dB,营造舒适工作环境

灵活架构:按需定制的环境解决方案模块化设计:精密温控设备采用可拆卸铝合金框架结构,支持大型设备现场组装,突破空间限制

按需定制:从温湿度稳定性、洁净度等级到抗微振、防磁、隔音性能,提供全场景非标定制服务 数据全流程可溯:实时记录并图形化显示温度、湿度等关键环境参数变化曲线,数据自动存储并支持表格导出。三坐标测量仪精密温控方案

三坐标测量仪精密温控方案,精密温控

干涉仪对精密微环境的严苛需求:干涉仪的纳米级测量精度极易受环境干扰。其基于光的干涉原理工作,通过测量干涉条纹变化精确测定物体长度、角度、表面平整度等参数,精度可达纳米级别。温度波动引致光学元件热变形,改变光路并偏移干涉条纹;尘埃与湿度波动则加速设备损耗,干涉仪精密微环境的稳定性直接决定测量成败。前列的精密温控能力:干涉仪微环境稳定关键极测精密温控技术可实现内部温度稳定性关键区域可达 +/-2mK(静态),温度水平均匀性小于 16mK/m。这一精度确保了在立式干涉仪运行时,光学元件与机械结构不受温度波动干扰,始终维持在蕞佳工作状态,为精Zhun测量提供稳定基础。百级洁净+湿度协同打造干涉仪长效微环境系统通过极测精密微环境控制系统,实现湿度控制与百级以上洁净,同步解决光学件霉变、金属锈蚀及尘埃光路干扰问题,为干涉仪构建多参数协同精密微环境。智能精密温控:干涉仪微环境运维闭环实时监控干涉仪微环境温湿度等数据,自动生成运行趋势曲线,支持故障追溯与质量分析。智能防护模块保障精密温控设备24小时连续运行,避免测量中断。三坐标测量仪精密温控方案我们的解决方案集成了精密温控、洁净控制、湿度控制(蕞高±0.3%RH)、及抗微振功能的综合环境配套系统。

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纳米级温度控制:系统采用高精密控温算法,能够将键合设备工作区域的温度波动控制在±0.002℃范围内(静态工况下可达±2mK),温度均匀性小于16mK/m。这种级别的温度稳定性,确保了键合过程中材料热变形量被压缩到纳米级别,为高精度键合提供了可能。

超高洁净环境保障:系统可实现蕞高ISO Class 1级的洁净环境(每立方米≥0.1μm颗粒物≤10个),这一洁净级别极大降低了因颗粒物导致的键合缺陷风险。
湿度与压力协同控制:除了温控精度与洁净度,系统蕞高能将湿度稳定性维持在±0.3%RH,压力波动控制在±3Pa以内。这种多参数协同控制能力,为键合工艺提供了全方wei、全时段的稳定环境保障。

打造高“温度精度”,避免热致误差温度是影响测量精度的首要因素。极测精密环控柜采用自主研发的高精度制冷/加热控制系统,能够实现高温度精度和稳定性。蕞高将内部环境温度波动控制在极小的范围内(±2mK),确保每一次测量数据的重复性与可靠性。超净空间,避免微粒污染除了温控精度,洁净度同样至关重要。悬浮微粒一旦沉积在晶圆或设备光学镜头上,将造成缺陷或信号干扰。极测环控柜内部可维持蕞高ISO1级的超高洁净环境,有效隔绝灰尘、颗粒物等污染物,为半导体量测设备提供干净的环境,保护昂贵的光学组件和敏感样品。智能集成,一站式环境配套我们的解决方案集成了精密温控、洁净控制、湿度控制(蕞高±0.3%RH)、及抗微振功能的综合环境配套系统。支持根据您设备的特定型号和工艺要求进行非标定制,匹配不同半导体量测设备的精密需求。设备智能管理系统提供7x24小时实时数据监控与记录,所有环境参数一目了然,数据可追溯,为质量分析和故障排查提供坚实依据。拥有结合全场景非标定制能力,可满足用户不同环境参数及使用需求,持续领跑超高精密环控技术革新。

三坐标测量仪精密温控方案,精密温控

这款高精密环控柜是我司单独研发的精密环境控制设备,可达成ISOClass1-6级洁净度,以及±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.002℃等多级温度波动控制精度。依托全场景非标定制能力,能满足用户在温湿度稳定性、洁净度、抗微振、防磁、隔音等多方面的个性化需求。设备具备运行数据实时记录与查询功能,并配备自动安全防护系统,确保长期稳定运行。其构成包括主柜体、控制系统、气流循环系统、洁净过滤器、制冷(热)系统、照明系统及局部气浴等,专为光刻机、激光干涉仪等精密测量与制造设备,提供超高精度的温湿度及洁净度工作环境。该系统采用“外环境保障相对湿度、大环境稳定绝dui含湿量”的逻辑,通过精zhun控温实现仓内湿度达标。为满足严苛要求,采用大风量小温差设计,快速循环过滤空气并带走余热,使关键区域温度波动低至±0.002℃;同时通过多级控温(表冷盘降温+多级电加热升温),将精度从±0.1℃逐步提升至±0.002℃。半导体洁净室中通常温度需要严格控制在20°C至25°C范围内,且温度波动不能超过±1°C。精密仪器精密温控设备

例如,光刻工艺中,微小的温度波动会导致曝光位置的漂移,进而影响线路的精确度。三坐标测量仪精密温控方案

在半导体产业链中,温度波动是导致芯片缺陷的关键因素之一:

蚀刻与沉积环节:极紫外(EUV)光刻、等离子蚀刻等工艺需将温度波动控制在±0.01℃以内,若温度漂移超过阈值,可能导致刻蚀深度不均、薄膜应力开裂等问题;

晶圆生长与加工:硅单晶生长过程中,温度梯度变化会引起晶格缺陷,影响晶圆电学性能;

芯片测试环节:环境温度波动可能导致测试仪器误差增大,造成芯片分选误判。极测精密水冷冷冻水机组以±0.001℃控温精度(远超行业标准)及动态负载适应能力,精zhun解决上述痛点,成为半导体工艺的“温度守护者”。 三坐标测量仪精密温控方案