您好,欢迎访问

商机详情 -

上海成像膜厚仪

来源: 发布时间:2025年10月25日

在锂离子电池生产中,正负极极片的涂布工艺要求极高的厚度均匀性,通常控制在微米级(如100±2μm)。厚度偏差会导致容量不均、内阻增加甚至热失控风险。非接触式β射线或X射线测厚仪被频繁集成于涂布机后端,实时监测极片涂层厚度。β射线穿透材料后强度减弱,衰减程度与涂层质量成正比,结合基材空白区域校准,可精确计算涂层厚度。系统可与PLC联动,自动调节刮刀间隙或泵速,实现闭环控制。该技术明显提升了涂布一致性,降低了废品率,是动力电池智能制造的重要环节之一。微光斑型号可测直径小于1mm的区域。上海成像膜厚仪

上海成像膜厚仪,膜厚仪

除了光学方法,非接触式膜厚仪还频繁采用涡流(EddyCurrent)和电磁感应技术,主要用于金属基材上非导电或导电涂层的厚度测量。涡流法适用于测量非磁性金属(如铝、铜)表面的绝缘涂层(如油漆、阳极氧化膜),其原理是通过交变磁场在导体中感应出涡流,而涂层厚度会影响涡流的强度和分布,仪器通过检测线圈阻抗的变化来推算膜厚。电磁感应法则用于磁性基材(如钢铁)上的非磁性涂层(如锌、铬、油漆)测量,利用磁场穿透涂层并在基材中产生磁通量变化,涂层越厚,磁阻越大,信号越弱。这两种方法响应迅速、稳定性好,常用于汽车、航空航天和防腐工程中的现场检测。上海非接触膜厚仪非接触膜厚仪无需触碰样品即可精确测量薄膜厚度。

上海成像膜厚仪,膜厚仪

在制药行业,药品包装常采用多层复合膜,如铝塑复合膜,用于防潮、避光和延长保质期。其中铝箔层的厚度对阻隔性能至关重要。非接触式X射线荧光(XRF)或β射线测厚仪可用于测量铝层厚度,原理是通过检测穿透材料后的射线强度变化来推算质量厚度(g/m²),再结合密度换算为物理厚度。该方法无需接触样品,适合在线连续检测,频繁应用于泡罩包装生产线。此外,红外光谱法也可用于测量有机层(如PE、PVC)的厚度,实现多层结构的逐层分析,保障包装完整性与合规性。

随着柔性显示、可穿戴设备和柔性电路的发展,非接触式膜厚仪在柔性基材(如PI、PET、PEN)上的应用日益频繁。这类材料通常较薄、易变形,且表面可能存在微结构或曲面,传统接触式测量极易造成损伤或读数偏差。非接触光学测厚技术可在不施加压力的情况下完成对导电层(如ITO、银纳米线)、介电层和封装层的厚度监控。尤其在柔性OLED封装工艺中,需沉积超薄阻隔膜(如SiO₂/有机交替多层),其总厚度只几百纳米,必须依赖高精度椭偏仪或光谱反射仪进行逐层控制。该技术保障了柔性器件的长期稳定性和可靠性。校准过程自动完成,减少人为误差。

上海成像膜厚仪,膜厚仪

非接触式膜厚仪是一种无需物理接触被测样品即可精确测量其表面薄膜厚度的高级检测设备,频繁应用于半导体、光学镀膜、光伏、电子显示、汽车制造和精密金属加工等领域。与传统的接触式测厚仪(如千分尺或触针式轮廓仪)相比,非接触式技术避免了因探头压力导致的表面损伤或测量误差,尤其适用于柔软、易划伤或高精度要求的薄膜材料。该类仪器通常基于光学、电磁或涡流原理,通过发射特定波长的光或电磁信号,分析其与薄膜表面相互作用后的反射、折射或相位变化,从而反推出膜层的物理厚度。其测量精度可达纳米级,重复性高,响应速度快,支持在线实时监控,是现代智能制造与质量控制体系中的关键检测工具。可识别涂层不均、缺层或过厚缺陷。上海汽车膜厚仪代理

具备温度补偿功能,提升环境适应性。上海成像膜厚仪

非接触式膜厚仪在光伏产业中主要用于薄膜太阳能电池的生产质量控制,如非晶硅(a-Si)、碲化镉(CdTe)、铜铟镓硒(CIGS)等薄膜电池的各功能层厚度监控。这些电池的光电转换效率高度依赖于各层材料的厚度均匀性和光学特性。例如,在PECVD(等离子体增强化学气相沉积)过程中沉积的非晶硅层,若厚度不均会导致载流子复合增加,降低电池效率。非接触式测厚仪可在沉积过程中实时监测膜厚变化,结合闭环控制系统自动调节工艺参数,确保整板厚度一致性。此外,该技术还可用于透明导电氧化物(TCO)层的厚度测量,保障电极的导电性与透光率平衡。上海成像膜厚仪