SPI导入带来的收益在线型3D锡膏检测设备(SPI)1)据统计,SPI的导入可将原先成品PCB不合格率有效降低85%以上;返修、报废成本大幅降低90%以上,出厂产品质量显著提高。SPI与AOI联合使用,通过对SMT生产线实时反馈与优化,可使生产质量更趋平稳,大幅缩短新产品导入时必须经历的不稳定试产阶段,相应成本损耗更为节省。2)可大幅降低AOI关于焊锡的误判率,从而提高直通率,有效节约人为纠错的人力、时间成本。据统计,当前成品PCB中74%的不合格处与焊锡有直接关系,13%有间接关系。SPI通过3D检测手段有效弥补了传统检测方法的不足3)部分PCB上元器件如BGA、CSP、PLCC芯片等,由于自身特性所带来的光线遮挡,贴片回流后AOI无法对其进行检测。而SPI通过过程控制,极大程度减少了炉后这些器件的不良情况。4)伴随电子产品日益精密化与焊锡无铅化的趋势,贴片元件越来越微型,因此,焊锡膏印刷质量正变得越来越重要。SPI能有效确保良好的锡膏印刷质量,大幅减少可能存在的成品不良率。5)作为质量过程控制的手段,能在回流焊接前及时发现质量隐患,因此几乎没有返修成本与报废的可能,有效节约了成本设备通常具备自动检测和配置功能。肇庆直销SPI检测设备功能
3DSPI(SolderPasteInspection)是指锡膏检测设备,主要的功能就是以检测锡膏印刷的品质,包括体积,面积,高度,XY偏移,形状,桥接等。如何快速准确的检测极微小的焊膏,PARMI3DSPI是使用Laser(中文译为激光三角测量技术)的检测原理。根据研究结果,印刷工艺有着大于74%的可变性,之所以存在这么大的可变性,是因为印刷工艺中包含大量不确定的工艺参数,包括焊膏的种类、配方、环境条件、钢网的类型、厚度、开孔的宽厚比和面积比、印刷机等类型、刮刀、印刷头技术、印刷速度等等。广州全自动SPI检测设备保养SPI锡膏检查机可以检查出那些锡膏印刷不良?
通常SMT贴片加工厂的锡膏检查设备除了它自身的主要任务一一测量得到锡膏的厚度值外,还能通过它得到面积、体积、偏移、变形、连桥、缺锡、拉尖等具体的数据,根据客户的需要调试机器,把详细的焊点资料导出给客户检验。其检查的基板尺寸范围一般是50mx50mm~250mm×330mm,基板厚度范围为0.4~5.0mm。区分锡膏检查设备优劣的指标集中在分率、测定重复性、检查时间、可操作性和GR&R(重复性和再现性)。而深圳市和田古德自动化设备有限公司研发生产的SPI能够检查的基板尺寸范围是50mx50mm~500mm×460mm,基板厚度范围是0.6mm~6.0mm。
在SPI技术发展中,科学家们发现莫尔条纹光技术可以获得更加稳定的等间距,平行条纹光,从而极大提高高精度测量中的稳定性,韩国科漾(高永)SPI率先采用新的技术-莫尔条纹光技术,经市场的反复的验证,莫尔条纹光在高精度测量领域有着独特的技术优势。全球首先开发SPI开发商美國速博Cyberoptical已将原来的激光技术改良为莫尔条纹光(光栅)技术。早期美國速博Cyber-OpticalSPISE-300采用激光条纹光技术,Cyber-Optical产品QX-500,已由激光改良为的白色选通照明装置(即莫尔条纹/光栅)。smt贴片加工AOI检测的优点。
2.1可编程结构光栅(PSLM)技术PMP技术中主要的一个基础条件就是要求光栅的正弦化。传统的结构光栅是通过在玻璃板上蚀刻的双线阵产生摩尔效应,形成黑白间隔的结构光栅。不同的叠加角度形成不同间距的结构光栅。此结构的特点是通过物理架构的方式实现正弦化的光栅。其对于玻璃板上蚀刻的精度与几何度的要求都比较高,不容易做出大面积的光栅。可编程结构光栅是在微纳米技术和物理光学研究基础上设计出来的一种新的光栅技术,其特点是光栅的主要结构如强度,波长等都可以通过软件编程控制和改变,真正的实现了数字化的控制。因为其正弦光栅是通过软件编程实现的,所以理论上可以得到比较完美的正弦波光栅,并通过DLP(DigitalLightProcessing)技术,得到无损的数字化光栅图像。重要部分是数字显微镜器件,并且由于是以镜片为基础,提高了光通过率,所以它对于光信号的处理能力以及结构光的强度有着明显的提高,为高速,清晰,精确的工业测试需求提供了基础。对于PCB行业而言,从工艺、成本和客户需求几个角度来看对于SPI设备的需求都呈现上升趋势。广州全自动SPI检测设备保养
AOI在SMT贴片加工中的使用优点有哪些呢?肇庆直销SPI检测设备功能
AOI检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困、检测误判的定义及存在原困误判的三种理解及产生原因可以分为以下几点:1、元件及焊点本来有发生不良的倾向,但处于允收范围。如元件本来发生了偏移,但在允收范围内;此类误判主要是由于阙值设定过严造成的,也可能是其本身介于不良与良品标准之间,AOI与MV(人工目检)确认造成的偏差,此类误判是可以通过调整及与MV协调标准来降低。2、元件及焊点无不良倾向,但由于DFM设计时未考虑AOI的可测性,而造成AOI判定良与否有一定的难度,为保证检出效果,将引入一些误判。如焊盘设计的过窄或过短,AOI进行检测时较难进行很准确的判定,此类情况所造成的误判较难消除,除非改进DFM或放弃此类元件的焊点不良检测。3、由于AOI依靠反射光来进行分析和判定,但有时光会受到一些随机因素的干扰而造成误判。如元件焊端有脏物或焊盘侧的印制线有部分未完全进行涂敷有部分裸露,从而造成搜索不良等。并且检测项目越多,可能造成的误报也会稍多。此类误报属随机误报,无法消除。肇庆直销SPI检测设备功能