您好,欢迎访问

商机详情 -

上海非接触式影像测量仪说明书

来源: 发布时间:2023年09月09日

影像测量仪的主要作用。在精密测量仪器开始发展的时候,我们光能依靠一台简单粗糙的投影机来完成一些简单的测量,这在很大的程度上限制了市场与客户对产品的质量保证。于是,在这个基础上,二次元影像测量仪被科研人员和生产厂商研发而出,顿时成为了高精度测量仪中的时尚宠儿。在现在看来,二次元任然是属于简单的检测仪器,可是在当时的情况下来说,它已经在原始投影机的基础上有了很大的突破,它在测量结果的精确度与测量的复杂性都有了很大的提高,也正是从这个时候开始,精密测量仪器真正进入到了高精度测量仪的发展时代。影像测量仪能够满足清晰影像下辅助测量需要。上海非接触式影像测量仪说明书

上海非接触式影像测量仪说明书,影像测量仪

影像测量仪镜面擦拭的步骤。对影像测量仪镜面的擦拭,是二次元影像仪测量工件前的必要步骤,因为这样可以更加清晰的获得二次元被测工件的详细数据信息,为以后提供准确的数据依据。对二次元影像测量仪镜面的擦拭,我们可以根据以下步骤来完成:1、先用二次元影像测量仪的拭镜纸轻轻抹拭镜面表层,勿用力以免伤及镜面。2、再用棉花棒沾工业用酒精,轻轻抹拭二次元影像仪的镜面表层,并需等酒精挥发后,再装回去。3、影像测量仪的镜面抹拭可区分成校正玻璃片及镜头内透镜组,因为灰尘粒子会造成成像的黑点,镜面抹拭至为重要,装置后需重新借着影像观察抹拭结果。北京进口影像测量仪作业流程影像测量仪使测量过程可以被仪器记忆和学习。

上海非接触式影像测量仪说明书,影像测量仪

二次元影像测量仪照明方式有哪些?背光照明:从物体背面射过来均匀视场的光。通过相机可以看到物面的侧面轮廓。背光照明常用于测量物休的尺寸和定物体的方向。背光照明产生了很强的对比度。应用背光技术时候,物体表面特征可能会丢失。例如,可以应用背光技术测量硬币的直径,但是却无法判断硬币的正反面。同轴照明:同轴光的形成--通过垂直墙壁出来的变化发散光,射到一个使光向下的分光镜上,相机从上面通过分光镜看物体。这种类型的光源对检测高反射的物体特别有帮助,还适合受周围环境产生阴影的影响,检测面积不明显的物体。暗场(DarkField)照明:暗场照明是相对于物体表面提供低角度照明。使用相机拍摄镜子使其在其视野内,如果在视野内能看见光源就认为使亮场照明,相反的在视野中看不到光源就是暗场照明。因此光源是亮场照明还是暗场照明与光源的位置有关。典型的,暗场照明应用于对表面部分有突起的部分的照明或表面纹理变化的。

全自动影像测量仪是影像测量技术的高级阶段,具有基于机器视觉和过程控制的自动学习功能,具有高度智能化和自动化的特点。其优越的软硬件性能使坐标尺寸测量方便、舒适,根据数字化仪器的高速精确微米级定位,测量过程的路径、对焦、点的选择。SK全自动影像测量仪承担了SK数字影像测量仪的以下工作:集CNC高速测量、CAD逆映射、图像管理于一体。集光、机械、电、软件为一体的高级智能化设备,是采用现代光学、计算机屏幕测量、空间几何运算和精密运动控制等技术,具有三轴数控、点与点位置、图像同步、实时检测、误差修正、工件自由布置、CNC快速测量等基础性能。非常数字化,所有操作均通过鼠标进行,摆脱手摇时代的机械局限;实时误差修正突破了现有设备存在的精度和速度限制;通过方便的CNC快速测量、样品实测、图纸计算、CNC数据导入等方式制作CNC坐标数据,柔软的三轴微米数控能力,实现何去何从、同步读数、人机集成;良好的人机界面将繁琐的操作过程有机整合,从仪器上按目标点自动进行测量操作,是手摇式测量装置工作能力的几十倍,人员简单高效。影像测量仪用红色标注超差尺寸或报警,样品合格与否一目了然。

上海非接触式影像测量仪说明书,影像测量仪

二次元影像测量仪的特征。真直度。影像测量仪的真直度是指被影像测量仪测定各点与基准直线间距离之大差的位移偏差量。影像测量仪的真直度数值越大越表示直线的变形越大,相反影像测量仪的真直度数值越小表示直线的变形越小越接近真直线。真圆度。影像仪的真圆度是指圆柱体、圆锥体或球体呈真圆程度的一种公差表示法,任一与轴线正交之剖面,影像仪真圆度的周界均位于两同心圆之间,此两同心圆的径向距离,即为真圆度公差。其数值越大越表示影像仪圆的变形越大,数值越小表示影像仪圆的变形越小越接近真圆。影像测量仪做好防潮的措施是非常必要的。潮州影像测量仪公司

影像测量仪测量的结果显然要偏离其真实尺寸。上海非接触式影像测量仪说明书

影像测量仪技术及其发展趋势。进一步提升测量精度。随着不断进步的工业水平,对微型零件的精度要求也将进一步提高,因而也提出了对影像测量仪技术的测量精度更高的要求。同时,随着快速发展的图像传感器件,高分辨率器件也为系统精度的提升创造了条件。测量效率提高。在工业中微型零件的应用正在成几何量级的增长,100%在线测量的生产模式以及繁重的测量任务都需要高效率的测量手段。随着图像处理算法的不断优化以及计算机等硬件能力的提升,影像测量仪系统的效率都将得到提高。实现由点测量模式向整体测量模式的微型零件过渡。现有的影像测量仪技术受测量精度的制约,难以对整个轮廓或整体特征点进行测量,基本都是对微型零件中关键特征区域进行成像,从而实现关键特征点的测量。随着不断提升的测量精度,实现整体形状误差的高精度测量并获取零件的完整图像将会在越来越多的领域获得应用。上海非接触式影像测量仪说明书