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上饶光谱仪

来源: 发布时间:2023年03月18日

SPM-5000高精度快速光谱仪系统采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术,光路设计独特,杂散光极低。测试准确度及重复性稳定可靠,组成IMS积分球测试系统自动化程度高,测试速度快;可以满足照明行业质检部门的质量检测、生产部门的质量控制以及开发部门的参数测试设计的日常需求。发光效率、光谱功率分布及色度参数是各类光源及发光材料的重要质量指标,有效的掌握这些质量指标的测量仪器对于各类光源及发光材料的研制及生产有着十分重要的意义。CCD光谱仪积分球测试系统正是为满足CIE/IESNA/GB等标准的基础上设计而成的。IMS-2020光色电综合测试系统满足GB/T 5702:2003 光源显色性评价方法。上饶光谱仪

光谱仪

SPM5000高精度快速光谱仪测试系统(含植物生长灯数据),在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体色容差SDCM参数。满足ANSI C78.377-2015,ANSI C78.376-2001色容差SDCM的测量,参照荧光灯国家标准GB/T10682-2010色容差公式:g11Δx2+2g12ΔxΔy+g22Δy2=K2(1)式中:Δx和Δy表示相对于目标坐标值x,y的误差,g11,g12,g22表示由各目标值决定的系数,K为色容差。标准颜色灯的色品坐标目标值应符合表D1的规定(见附录),系数见表D2。用轴参数计算色容差的算式为:x’/K2a2+y’/K2b2=1(2)式中:x’=Δxcosθ+Δysinθy’=-Δxsinθ+Δycosθa和b分别是1SDCM的长半轴和短半轴,见表D3。详细内容参见荧光灯国家标准GB/T10682-2010。扬州光谱仪标准要求IMS-2020光色电综合测试系统满足CIE 177:2007 。

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SPM-5000光谱仪光谱法测量色度参数,光谱仪一般由单色仪分光系统,光度探测系统,数据处理部分所组成。先用已知每个波长辐射量的标准灯标定光谱分析仪,然后再放被测光源,用单色仪分别测出每个相对应的波长的修正之后,被测量光源的每个波长的光谱辐射强度,再将算得的各波长的光谱辐射强度分别除以bast大光谱辐射强度值,得到待测光源的相对光谱功率分布,得出被测光源的相对光谱功率分布之后,优先进行光谱功率分布不同的修正,因为标准灯的相对光谱功率分布与被测光源的光谱功率分布不同,将产生光通量的,进而得出色坐标,色品容差,相关色温,显色指数等色度参数。

SPM-5000系列光谱辐射计采用独特的杂散光控制技术、宽动态线性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术,并成功应用了带通色轮校正技术(BWCT)、分光积分结合技术(SBCT),以及修正的NIST杂散光校正技术等多项**技术,整个系统实现了前所未有的5.00E-05的极低杂散光水平(在A光源严格条件下)和0.3%的全动态光度线性性能,是一款**的快速光谱辐射计,完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求,可实现LED的瞬态光学特性测量(脉冲测量)及稳态光学特性测量(直流测量)。SPM-5000高精度快速光谱仪多点阵带电子快门CCD,灵敏度高,动态范围宽。

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SPM5000系列高精度快速光谱仪测试系统满足TM-30显色评价方法的测量,它满足北美照明工程学会(IES)发布了新版的光源颜色质量评价标准:IES TM-30-18 Method for Evaluating Light Source Color Rendition(光源颜色再现的评价方法)。IES TM-30双指标共同评价颜色质量:保真度Rf用来表征光源的显色指数CRI,即各标准色在测试光源照射下与在参考光源照射下相比的相似程度。色彩饱和度Rg用来表征光源的色域指数GAI,即各标准色在测试光源照射下与参考光源相比的饱和程度,指数100**饱和度比较好。TM-30采用了99个标准色,这99个标准色不再是孟塞尔色卡,并且这99个标准色对于各波长的敏感度基本相同。TM-30体系还提供了一个色彩矢量图,直接以图形来显示特定颜色在被测光源下的色偏移以及饱和度的改变是暗淡还是更加生动,这是对保真度和饱和度指数的重要补充。在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体TM-30显色评价方法参数。SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足LED主波长,峰值波长,谱线半宽度的测量。植物生长灯光谱仪标准要求

SPM-5000高精度快速光谱仪满足CIE127-1997标准。上饶光谱仪

SPM-5000光谱辐射计采用全息光栅的刻槽通常为近似正弦波形,刻槽等宽平行或者为优化性能而特别设计的不等宽平行。其线槽密度高,刻划面积大,因此杂散光低,同时分辨率也得到大幅度提高。全息光栅在较宽光谱范围内的衍射效率变化平缓,衍射效率较高的波长由刻痕的深度确定。全息光栅的衍射效率通常比闪耀光栅低,但是通过改变刻痕深度和刻痕周期的比率以及采用“离子蚀刻”等技术,也可以获得比闪耀光栅更高的效率。另外,全息光栅不会出现周期性的刻划失误,所以不会产生鬼线。采用全息光栅的光谱仪具有很高的测量精度。上饶光谱仪

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