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上海InView-PL原位光谱检测设备

来源: 发布时间:2026年06月09日

相关科研案例:

原位表面增强拉曼光谱研究单位:南开大学 谢微团队发表期刊/时间:ACS Nano, 2025年主要技术与装置:将原位表面增强拉曼光谱(SERS) 与多种互补光谱技术结合,利用等离激元核-卫星超结构追踪原子尺度的相互作用。研究成果:通过揭示量子点表面激子-分子相互作用介导的光催化机制,在钙钛矿量子点光催化研究中应用了原位光谱,为催化剂设计提供了新思路。


原位有序自组装——量子阱与量子点的高效协同研究单位:叶志镇院士团队主要成果:提出“原位有序自组装量子阱”新思想,并斩获2024年度浙江省自然科学奖一等奖。研究内容:原位自组装:通过控制生长条件,让低维钙钛矿结构自发、有序地排列,替代传统无序的多晶薄膜。量子点-量子阱耦合:将量子点与量子阱结合,在电子和纳米尺度实现双重调控,将发光效率提升至国际水平。原位PL(光致发光)的角色:在这些研究中,稳态/瞬态荧光光谱是评估材料光电性能的关键表征工具。 微观PL强度分布成像,InView-PL揭示边界复合。上海InView-PL原位光谱检测设备

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退火结晶PL监控是一种利用光致发光(Photoluminescence, PL)光谱实时监测材料在退火过程中结晶质量演变的原位表征技术。它广泛应用于钙钛矿太阳能电池、薄膜晶体管、半导体薄膜等研究领域,用于揭示热处理条件下晶体生长、缺陷演变和相转变的动态机制。

光致发光是材料吸收光子后发射出更长波长光子的过程,其光谱特征直接反映材料的电子结构和缺陷态密度。当薄膜材料在加热台上经历退火处理时,研究者通过连续采集PL光谱,可以实时追踪以下信息:发光峰位移动通常揭示带隙变化或相转变。例如钙钛矿薄膜在退火初期可能处于中间相或非晶态,PL峰位较宽且位于异常波长;随着结晶进行,峰位逐渐移至材料本征带隙对应的位置,表明晶体结构趋于规整。
上海InView-PL原位光谱检测设备原位荧光光谱技术,实时揭示材料演化规律。

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该技术还能建立工艺-结构-性能的直接关联。通过对比不同转速、浓度、溶剂配比下的PL演变曲线,可以提炼出决定薄膜质量的关键工艺窗口,实现从经验试错到理性设计的转变。此外,旋涂PL监控与原位吸收光谱、原位掠入射X射线散射(GIWAXS)和原位电导测量的联用,可以构建溶液加工薄膜形成的完整动力学图景。PL提供电子态和缺陷信息,GIWAXS给出晶体结构和取向,吸收光谱反映组分浓度和带隙变化,电导测量追踪渗流网络形成。当前旋涂PL监控面临的主要挑战包括信号弱(稀释溶液和薄膜初期PL量子产率低)、背景干扰(溶剂散射和荧光、基底信号)以及空间分辨率不足(通常只能获取积分信号,难以分辨径向厚度不均)。未来发展方向包括:采用共聚焦或光片激发提升信噪比和空间分辨;结合时间分辨PL获取载流子寿命动态;开发高通量多通道系统同时监控多个工艺变量;以及将技术拓展至刮涂、狭缝涂布等高通量溶液法工艺。旋涂过程PL监控正从专门的表征工具演变为溶液法制膜工艺开发的标准手段,其揭示的成膜动力学规律对于提升钙钛矿光伏、有机电子和量子点器件的可重复性和性能具有重要指导意义。

研究人员也可以通过原位PL技术研究制备工艺中的冷却速率、真空工艺、狭缝模涂覆、真空辅助淬火及气体淬火等过程对钙钛矿薄膜质量的影响,继而进一步优化薄膜质量和器件性能。我司专为钙钛矿结晶动力学研究设计的原位PL测试设备:系统特点:1、实时测量发光材料制备时的原位光谱;2、原位光谱测量软件,可以实现时间趋势的原位光谱图和3D的光谱图;3、光谱数据到处和处理方便,可以直接截取拉伸感兴趣的测量区域;4、方便的数据导出;5、采用海洋光学的光谱仪,系统稳定可靠;6、光谱采集探头可实现高效收集,可避免污染。波长范围350-1100 nm(其他波长可定制)波长精度2 nm(其他精度可定制)激发光波长405 nm@100 mW信噪比3500:1。高通量原位PL筛选,加速量子点合成条件优化。

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非原位测量:先制备好一批在不同条件下的钙钛矿薄膜,都完全冷却、结晶结束后,拿出来分别测PL。无法观测到一些只存在于形成过程中的短暂中间相或亚稳态。原位测量:在材料形成、转变或工作的动态过程中,进行实时、连续的PL信号采集。 不中断、不破坏过程。比如,在旋涂(spin-coating)或退火(annealing)的过程中,PL探头就架在上面,每几百毫秒采一条光谱。能看到结晶好的晶体(高PL强度),还能清晰地看到前驱体溶液的发光、湿膜中开始成核的瞬间、溶剂闪蒸时中间相的生成与演变、以及热退火下晶体生长和缺陷愈合的全过程。中间相的PL信号,只有在原位下才能被捕捉到。变温PL光谱,研究钙钛矿相变与激子行为。广东在线原位荧光光谱原位光谱检测哪家好

多功能原位荧光测试平台,实现科研自由搭配。上海InView-PL原位光谱检测设备

主要光路:激发光源:常用的是半导体激光器,波长为405nm、450nm、520nm等。选择原则是光子能量必须大于钙钛矿的带隙,且避免与PL峰位重叠。激光通过带通滤光片纯化,然后经二向色镜(对激发光高反,对PL长波通)或Y型光纤的一个分支,被聚焦到样品上。Y型光纤特别适合集成到手套箱,一束光纤传激发光,同心外圈或另一分支收集PL光,非常灵活。信号收集与检测:从样品发出的PL光,经同一透镜收集,穿过二向色镜,再经过长通滤光片(彻底滤除残留的激发光),耦合进入光谱仪。光谱仪内部用光栅分光,由CCD(硅基,用于可见光)或InGaAs(铟镓砷,用于近红外)阵列探测器记录光谱。对于TRPL,则采用时间相关单光子计数(TCSPC) 模块,用皮秒脉冲激光激发,由单光子雪崩二极管(SPAD)或微通道板光电倍增管(MCP-PMT)接收信号,通过统计每个光子到达时间重建衰减曲线。上海InView-PL原位光谱检测设备