上海激光轮廓分析光束质量分析仪测量系统

测量原理光束质量因子（M²）测量：DataRay 光束分析仪基于 ISO 11146 标准，通过测量光束的发散角和束腰宽度来计算 M² 因子。M² 因子是衡量光束质量的重要参数，值越接近 1，表明光束越接近理想高斯光束。光束发散角测量：DataRay 提供的高斯光束发散角测量模型可用于模拟和预测光束在后焦面上的光斑直径。通过输入透镜焦距、输入光束的 M² 值、波长等参数，模型可以计算出预计的光斑直径，并评估测量误差。光束剖面分析：DataRay 的光束分析仪能够实时捕捉光束的二维强度分布，分析光束的椭圆度、质心位置、能量分布均匀性等参数。DataRay 光束分析仪以其高精度、实时监控和强大的数据分析功能，在激光光束质量评估中发挥着重要作用。WinCamD-QD系列可用于1550nm和2000nm激光器的现场维修和校准，帮助技术人员快速评估激光器的性能状态。上海激光轮廓分析光束质量分析仪测量系统

2. 测试流程（ISO 11146）用 PPBS/反射 ND 把单脉冲能量降到 < 饱和值（参考 10.6 µm 曲线 ≈ 2 W cm⁻²）将 WinCamD-IR-BB 装于 M2DU-IR，沿 z 扫描 ≥ 10 点，覆盖 ±z_R 与远场软件实时记录 4σ 直径 → 双曲线拟合 → 输出 M²、ω₀、z_R、θ、指向漂移若激光 PRR ≤ 1 kHz，可开“Pulse”模式：相机自动与脉冲同步，仍得单脉冲轮廓；PRR > 1 kHz 直接用 30 fps 连续采集即可3. 关键注意点飞秒脉冲峰值功率极高——务必用反射式衰减（PPBS 或镀金 ND），避免非线性击穿吸收型滤光片波长若位于大气吸收线（如 2.7 µm、4.3 µm），光路加干燥 N₂ 吹扫，防止束形畸变饱和阈值随波长变化，测试前查看 WinCamD-IR-BB 饱和辐照度曲线，留 20 % 余量相机窗口不可拆卸，若需更高损伤阈值，可去窗版本下单；现场维护时先用 BeamTrap-50W 吸走废光M平方光束质量分析仪供应商配合M2DU平移台，可进行光束质量因子M²的测量。

DataRay的狭缝式光束分析仪主要分为Beam'R2和BeamMap2两个系列，它们通过不同的狭缝设计和测量原理，适用于多种激光光束分析场景。Beam'R2狭缝式光束分析仪狭缝类型：Beam'R2配备标准的2.5μm宽度的XY方向狭缝，以及更大的刀口式狭缝，能够测量直径小至2μm的光束。探测器选项：硅探测器：波长范围190-1150nm。InGaAs探测器：波长范围650-1800nm。扩展型InGaAs探测器：波长范围1800~~2300/2500nm。True2D™狭缝技术：采用蓝宝石衬底上的0.4μm厚金属多层薄膜结构，相比传统空气狭缝，避免了隧道效应，即空气狭缝因深度大于宽度，在高能量照射下易变形。应用实例：适用于非常小的激光光束轮廓测量、光学组件和仪器对准、OEM集成、镜头焦距测试、实时诊断聚焦与准直误差、多组件同步聚焦校准以及搭配M2DU模块实现M²测量。

数据Ray解决方案DataRay提供的光束质量分析工具包括：光束质量分析仪：高精度的相机式光斑轮廓分析仪，用于捕获不同传播距离上的光束剖面。自动平移台：精密控制分析仪沿光束传播方向移动，采集多个位置的光斑数据。专业软件：自动化控制测量流程，并依据ISO 11146标准进行拟合计算，输出准确的M²值。通过精确测量M²因子，可以有效评估激光光束的质量，为激光器的设计、制造和应用提供重要的数据支持。数据Ray解决方案DataRay提供的光束质量分析工具包括WinCamD-QD系列光束质量分析仪可用于光学组件和仪器的对准，通过精确测量光束的强度分布和光斑形状。

DataRay 光斑轮廓分析仪是用于激光光束质量分析的重要工具，广泛应用于科研、工业和医疗等领域。以下是 DataRay 光斑轮廓分析仪的主要功能和应用特点：主要功能光束剖面成像：实时捕捉输出光束的二维强度分布，能够清晰识别光束的能量分布和模式。光束直径测量：支持多种方法测量光束直径，包括高斯拟合、ISO 11146 标准、等效直径等。测量精度可达亚微米级别。光束椭圆度分析：自动计算光束的椭圆度，包括长轴、短轴和平均直径，并确定光束的轴向方向。质心位置测量：提供光束质心的***和相对位置，支持强度加权质心和几何中心的计算。光束拟合：支持高斯拟合和 Top Hat 拟合，能够计算拟合度、标准差等参数，帮助评估光束质量。光束漂移记录：实时记录光束的漂移情况，用于长期稳定性分析。M² 测量：通过配套的 M2DU 载物台，可以进行光束传播因子 M² 的测量，评估光束的聚焦能力和质量。非常适合以下应用：连续 和脉冲激光光束质量分析，激光系统现场维修，光学组装。上海Ophir光束质量分析仪测量系统

WinCamD-IR-BB能够测量中红外和远红外波段激光的光束轮廓。上海激光轮廓分析光束质量分析仪测量系统

近红外发光材料（NIR, 一般 900-2 500 nm）若*做“光谱”测试，只能拿到峰值波长和 FWHM；要完整评价材料性能，还需在“光谱仪”之外补配以下硬件与附件，分成“稳态”与“瞬态”两条线：一、稳态特性（波长-强度-量子效率）激发源连续或可调谐近红外激光/LED（980 nm、808 nm、1 064 nm 等），功率 ≥100 mW，用于上转换或下转移激发。若做上转换量子效率，需额外准备 1 支卤钨灯或 Xe 灯做参考光谱校正。积分球系统（***量子效率必需）内径 100-150 mm 的 Spectralon 或 BaSO₄ 球，带 NIR 出口窗；球壁开口配 PTFE 挡板，防止激发光直射探测器；与光谱仪耦合的“NIR 侧臂”需选用 InGaAs 或扩展-InGaAs 探测器（响应 900-2 500 nm）。波长校准灯Hg-Ar 或 Ne 低压灯，用于 1 000-2 500 nm 段像素-波长映射，保证峰值波长误差 <0.5 nm。上海激光轮廓分析光束质量分析仪测量系统