北京光斑形貌光束质量分析仪

软件功能强大**全功能软件：支持 ISO 11146 标准，提供 M²、D4σ、Knife-Edge 等参数测量。实时数据处理：支持实时非均匀性校正（NUC）与背景扣除。多相机支持：支持多台相机并行采集，提高测量效率。11. 应用领域***中远红外激光测量：适用于 CO₂ 激光器（10.6 µm）、量子级联激光器（QCL）等。现场服务与维护：用于 MIR/FIR 激光及基于激光的系统的现场维护。光学组件与仪器校准：确保光学系统的精确对准和校准。光束漂移与记录：监测光束的动态变化，记录漂移数据。WinCamD-IR-BB 以其***的性能和广泛的应用范围，成为中远红外光束质量分析的理想选择WinCamD-IR-BB可用于实时监测激光加工过程中的光束质量。北京光斑形貌光束质量分析仪

光束质量分析仪的测量精度是通过多种方法和措施来保证的，以下是一些关键因素和方法：1. 光斑宽度测量误差控制理论分析：光斑宽度测量误差对光束质量参数（如光束质量因子 M2、远场发散角、束腰半径等）的影响较大。研究表明，光斑宽度测量误差对光束质量的影响大于位置测量误差。实验验证：通过多次测量和实验验证，确保光斑宽度测量的准确性。例如，使用高精度的光电探测器和精确的机械控制系统。2. 光路对准装置内置对准装置：一些光束质量分析仪内置光路对准装置，通过分光片和多个相机对光束进行中心位置测量，并通过调节反射镜组确保激光光轴和测量透镜主轴重合。双相机系统：利用两个相机同时测量光束的中心位置，通过调整反射镜组将光束中心对准测量透镜的主轴，从而保证测量精度。3. 高精度传感器和探测器高分辨率传感器：使用高分辨率的传感器（如 DataRay 的 WinCamD-LCM 采用 4.2 MPixel CMOS 传感器）可以提高测量精度。低噪声探测器：采用低噪声探测器和高动态范围的传感器，减少测量误差。西安发散角光束质量分析仪检测设备WinCamD-IR-BB能够测量中红外和远红外波段激光的光束轮廓。

WinCamD-IR-BB特点：适用于 2 µm 至 16 µm 波长范围的中远红外光束分析。640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积 10.9 mm×8.2 mm。高信噪比，超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。应用：适用于 CO₂ 激光器（10.6 µm）、量子级联激光器（QCL）等中远红外激光。用于激光器研发、现场服务与维护、光学组件校准等。TaperCamD-LCM特点：大靶面尺寸 25 mm×25 mm，适用于大尺寸光束测量。4.2 MPixel，2048×2048 像素，12.5 µm 像素尺寸。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。应用：适用于大功率连续波或脉冲激光的光束质量分析。用于激光加工、激光器制造和光学系统对准。

DataRay 其他类似产品DataRay 提供多种光束质量分析仪和光斑分析仪，适用于不同的波长范围和应用场景。以下是部分产品及其特点：1. WinCamD-LCM 系列特点：高分辨率 CMOS 传感器，4.2 MPixel，2048×2048 像素。有效成像面积 11.3 mm×11.3 mm，像素尺寸 5.5 µm。支持连续光和脉冲光测量，带有 TTL 触发功能。高信噪比 2500:1，动态范围 44 dB。USB 3.0 接口，即插即用。应用：适用于 355 nm 至 1150 nm 波长范围的光束质量分析。广泛应用于科研、工业、医疗和通信领域。DataRay WinCamD光束分析仪对经过粗糙铝表面散射后的激光光束进行空间分布分析，包括散射光束形貌表征。

连续和脉冲激光轮廓分析WinCamD-LCM 广泛应用于连续光（CW）和脉冲激光的轮廓分析。其高分辨率和高帧率使其能够实时监测光束的动态变化，适用于激光加工、医疗激光和光通信等领域。4. 激光系统的实时监控在激光系统的实时监控中，WinCamD-LCM 用于监测光束的偏移和稳定性。通过其强大的软件功能，可以记录光束的漂移数据，帮助用户及时调整和优化激光系统。M² 测量WinCamD-LCM 搭配 M2DU 载物台，可以测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。这一功能对于激光器的研发和质量控制尤为重要。总结WinCamD-LCM 光束质量分析仪以其高分辨率、高帧率和***的波长覆盖范围，成为激光光束质量分析的理想选择。它在科研、工业、医疗和通信等多个领域都有广泛的应用，能够帮助用户精确测量和优化激光光束质量。WinCamD-IR-BB可以作为标准工具，对其测量结果进行校准和标定。黑龙江中红外光束质量分析仪厂商

采用通用的C/F-Mount接口设计，方便加衰减片、扩束镜、紫外转换装置。北京光斑形貌光束质量分析仪

DataRay 的 HyperCal™ 动态噪声校正技术可以显著提高测量精度。5. 机械和光学系统精度高精度机械控制系统：机械转动系统和位移测量系统的精度直接影响测量结果。采用高精度的机械控制系统和位移测量技术（如莫尔条纹测距方法）可以显著提高测量精度。光学系统校准：定期校准光学系统，确保光束质量分析仪的光学系统处于比较好状态。6. 环境和操作条件控制温度和振动控制：在稳定的环境条件下（如恒温、低振动）进行测量，可以减少环境因素对测量精度的影响。操作规范：按照操作规范进行测量，确保测量过程的准确性和一致性。7. 多次测量和统计分析多次测量：通过多次测量并取平均值，减少随机误差对测量结果的影响。统计分析：对测量数据进行统计分析，评估测量结果的可靠性和重复性。8. 校准和验证定期校准：定期使用标准光源或已知光束质量的激光器对光束质量分析仪进行校准。第三方验证：通过第三方机构对光束质量分析仪进行验证，确保其测量精度。通过以上方法和措施，光束质量分析仪能够实现高精度的测量，确保激光光束质量参数的准确性和可靠性。北京光斑形貌光束质量分析仪