2026中国（南京）国际科教技术及装备展览会圆满落幕

4月9日-11日，2026中国（南京）国际科教技术及装备展览会圆满落幕。这场以“融合创新·协同发展”为中心的行业盛会，汇聚了全球科教装备领域的前沿技术与相关企业，冠乾科技（上海）有限公司携合作产品亮相现场，与众多行业同仁共赴一场科技与创新的深度交流。

    展会现场，人气持续高涨。我们的专业团队耐心接待每一位访客，围绕核心产品展开细致讲解，深入解答技术参数、应用场景、定制服务等各类疑问，在交流中传递专业价值，也收获了众多认可与关注。

精细赋能科展品：原子力显微镜AFM

用途及功能

表面形貌(粗糙度)、成分分辨，具备接触、轻敲、peakforce等多种模式成形貌像，摩擦力图像、定量相位图像，表面局域电场力、磁场力、表面电势以及导电性、电场力及磁场力图像，表面电势可分辨表面两点电势差绝、对值，分辨率10mV，导电原子力显微镜(CAFM)可测量I-V曲线，表征表面局域导电性。

特殊模块功能附件KPFM

(可搭载特殊模式KPFM，如明暗场、截面KPFM)、PFM、EFM、MFM、CAFM、力曲线、SCM、QNM、高压PFM。

    对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全位非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS)，大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精细数据。

测量重复性为工程师们提供准确的薄膜厚度和应力测量，使其可以精确调节刻蚀和镀膜工艺来提高产品的优良，实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。

对诸多应用领域和工业部门不可或缺:

无机和有机金属化学分析半导体的研发

医药填料和活性剂测量

多品型物筛分

聚合物填充材料和颜料的研究

结晶度

地质和岩石分析

低温基质隔高光谱学

基础料研采矿业

安全保安

制药业

半导体产业

建筑行业

聚合物化工业

    DNA纳米荧光标尺（国家标准样品），上海计量测试技术研究院有限公司出品，作为首1家研发自主知识产权该类国家标准样品的机构，其开发的适配多款超分辨荧光显微镜（STED、STORM）的横向分辨率校准样品，可实现21nm、32nm、43nm、54nm乃至65/76/87nm等定制尺寸，为超分辨显微镜的分辨率验证、计量校准、技术培训和质量控制提供了精细可靠的支撑，成为现场众多科研机构、高校实验室关注的焦点。

结语

    “为科研生产保驾护航”是冠乾科技始终坚守的初心。从精细计量标准样品的供应，到科教装备全链条服务的配套，我们始终致力于以专业、高效的解决方案，助力科研工作者突破技术瓶颈，让科研实验更精细、更高效。

此次南京科教展，我们不只有展示了技术与产品，更搭建了与行业同仁交流合作的重要桥梁。短暂的相聚，是合作的开端；深度的交流，是创新的动力。

未来，冠乾科技将继续深耕科教装备领域，持续整合资源、迭代核心产品，以更专业的服务、更前沿的方案，为科研生产保驾护航，与行业伙伴携手，共促科教技术装备领域的创新发展！