告别测量困境!BRM-6301如何解决大发散角激光器行业痛点
在半导体激光器的研发与生产中,工程师们长期面临一个令人头疼的难题:如何精细测量那些快轴发散角高达30°~50°的激光二极管?
传统的光斑分析仪在面对此类大发散角光束时,往往因光斑尺寸远超探测器靶面、能量分布不均而束手无策,导致数据失真或根本无法测量。这一瓶颈,严重制约了高功率激光巴条、VCSEL阵列等前沿光源的性能验证、工艺优化与量产落地。
为什么发散角测量如此关键?
发散角并非一个简单的参数,它决定了激光器的光束质量关键。半导体激光器因其物理结构和发光机理,天生就具有发散较大且不对称的特点。所以半导体激光器的绝大多数应用,都需要首先对其进行光束整形,而发散角测量数据是进行光束整形设计的依据。
光纤耦合效率的决定性因素:
在光纤通信与光纤激光器泵浦领域,精确的垂直(θ⊥)与水平(θ∥)发散角数据,是设计快慢轴准直透镜系统、实现从“椭圆形光锥”到“圆形光纤”高效耦合(效率可从不足10%提升至90%以上)的**理论依据。
先进封装设计的关键输入:
现代高性能半导体激光器通常不是“裸芯片”,而是带有微光学透镜的模块(如To-Can封装带玻璃透镜、光纤耦合模块)。测量发散角是设计这些集成化微光学透镜(球面、非球面、柱面)的基础。“测试-设计”闭环是保证模块出光质量与一致性的关键。
系统集成与调试的可靠基准:
当需要将半导体激光器模块集成到一个更大的系统中时,已知的发散参数(包括发散角)是进行光路对准和调试的基准数据。无论是激光雷达发射单元、医疗设备**头,还是光谱仪光源,已知且稳定的发散角参数是后续光路布局、元件选型与系统对准的基础物理常数,确保**终应用性能的可预测性与可靠性。
因此,精确测量发散角,是连接半导体激光物理特性与终端工程价值不可替代的桥梁。
BRM-6301:以“旋转扫描法”突破传统测量局限
专为应对大发散角测量难题而设计的BRM-6301全自动发散角测试仪,采用创新的高精度双轴旋转扫描法,彻底摆脱了传统成像设备的角度与动态范围限制。
关键技术优势:
旋转扫描法,摆脱测量角度限制
采用高精度位移平台与双轴(γ轴:-90°~+90°,C轴:0°~360°)旋转设计,自动完成快轴与慢轴的全角度光强扫描。 此方法直接获取光源的空间角谱分布,不受光斑尺寸限制,尤其擅长测量超大发散角。
多维度数据深度解析
同时提供极坐标角度分布图(直观展示能量空间扩展)与直角坐标分布曲线(精确量化光束轮廓)。支持一键输出半强度角(FWHM)、1/4强度角,1/e2强度角等多种行业标准及定制化参数,全方面满足从研发到质检的不同需求。
全模块化灵活配置
对不同的被测对象-无论是不同波长(紫外到红外)、不同功率(毫瓦级至瓦级)的LD/LED,还是TO-Can、蝶形、COB、阵列等各种封装形式,均可通过灵活更换探测器模块与光源安装座进行完美适配,实现一机多用。
超越LD,赋能LED
同样适用于LED的配光曲线测量,为照明设计、背光模组的光学开发提供精细的角度分布数据支持,覆盖更广阔的光电测量市场。
赋能行业革新:从实验室到产线的价值跃迁
激光器制造商
在研发端加速新型芯片结构与腔体设计的验证迭代,在生产端高效辅助生产检验环节,确保出厂的激光器符合严格的发散角规格,提升产品的一致性与品牌信誉。
激光雷达公司
精细标定VCSEL面阵或EEL线阵的发射光束角分布,为光束整形器与匀光器件设计提供可靠输入,直接优化激光雷达的点云均匀性、探测距离与系统信噪比,筑牢自动驾驶的感知基石。
光通信模块企业
对DFB/EML等高速激光器芯片进行快速筛选与质量验证,保障其光束特性满足单模光纤的高效耦合要求,从源头降低模块的插入损耗,提升传输性能与良率。
LED照明与显示企业
精确测量Mini/Micro LED芯片的发光强度角度分布,为HDR显示模组的光学架构、汽车大灯的配光设计提供关键数据,驱动显示与照明技术向更高性能迈进。
医疗设备供应商
确保用于皮肤**、外科手术的半导体激光器光源输出光束符合医疗安全规范,同时优化光斑的均匀性,提升临床**效果与安全性。
立即体验智能测量新时代
无论是正在攻关下一代高亮度激光芯片的研发团队,还是需要提升产线检测效率的制造企业,BRM-6301都将成为您不可或缺的得力助手。
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