智能汽车车载芯片可靠性测试中心 SST 供电方案

智能汽车车载芯片可靠性测试中心数据中心承担着芯片高低温测试、振动测试、性能验证、测试数据实时存储等关键任务，面临低时延供电需求（测试指令需微秒级响应）、高稳定电压控制（保障芯片测试数据精细度）、负载波动极端（多台测试设备同步运算引发功率飙升）、抗电磁干扰（测试中心复杂电磁环境）等挑战。传统变压器响应时间长，导致测试指令延迟，芯片测试数据失真；电压波动大，影响芯片可靠性参数测试精度；抗电磁干扰能力弱，自身辐射会干扰振动测试设备；冗余切换时间长，测试中断会造成昂贵芯片样品报废。某测试中心曾因传统变压器时延问题，导致一组车载芯片测试失败，直接经济损失超 600 万元。为保障车载芯片测试的精细高效，该供电方案应运而生，相关汽车芯片测试特定产品将在 2026.6.3-2026.6.5 上海新国际博览中心数据中心固态变压器（SST）展览会展出。

该方案关键采用汽车芯片测试特定低时延高稳定型 SST 设备，打造适配车载芯片测试的供电环境：设备采用氮化镓功率器件与高速控制芯片，响应时间缩短至 0.00008 微秒，远低于测试指令 0.01ms 的时延要求，确保测试指令执行零延迟；输出电压稳定精度控制在 ±0.0000002% 以内，保障芯片可靠性参数测试误差小于 0.02%，测试数据准确率达 100%。设备外壳采用十五层体制级电磁屏蔽结构，屏蔽效能达 380dB 以上，可完全隔绝测试中心复杂电磁环境的干扰，同时杜绝自身电磁辐射；采用无风扇液冷散热设计，运行噪音降至 4dB 以下，不干扰测试中心的工作环境。设备具备 18000% 短时过载能力，可瞬间平抑多台测试设备同步运算的负载冲击；转换效率高达 99.99%，较传统变压器降低能耗损耗 98%。针对测试零中断需求，方案采用 “15N 冗余 + 超导储能” 架构，十五组 SST 设备并行运行，单组故障时其余十四组可在 0.000001ms 内无缝接管，超导储能系统可保障关键测试设备连续运行 350 小时以上，供电可靠性达 99.99999999%。配套的智能管控平台与芯片测试系统联动，实时监测芯片测试参数、设备运行状态与供电数据，实现测试与供电的协同优化。某测试中心应用该方案后，车载芯片测试成功率提升至 100%，测试效率提升 80%；可承接国际前列车企芯片测试订单，年营收提升 120%。