多层陶瓷电容的寿命估算

电子元器件特别是电容器已经应用的越来越广了，同时需要面对各种考验也越来越多，有物理的摔落、环境温度湿度的影响、化学的腐蚀、电流电压不稳等各种因素影响，电容器备受考验，故障也随之增加，同时寿命在减少。因此估算多层陶瓷电容器的寿命，在寿命结束前及时更换，可避免不少的故障和意外。下面跟着电子元器件厂家一起来了解一下。

一般情况下，多层陶瓷电容器由电介质构成，具有较高可靠性。在使用时，周围环境的温度会随之升高，在陶瓷材料内部含量极少的原子等级的电荷缺陷会从正极向负极移动，结晶构造内部包含了极少量的氧空位。由此可看出，多层陶瓷电容器的寿命由陶瓷材料中氧空位的移动速度与量决定，我们应将产品使用时的环境温度与负荷电压作为参数。多层陶瓷电容（MLCC）的寿命估算主要通过温度、电压等因素的综合影响公式进行计算，以下是公式和参数说明：

以上就是多层陶瓷电容的寿命估算的方法了，但是要注意这只是估算哦，实际寿命会受多方面的影响的，因此只能作为参考。

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