DS-60精密数字测量仪主要特性简介: 超宽的零位调节范围,其调节范围可达所设定量程的-150% ~ 150%,特别适用于大静载下的小动态载荷测量。独特的信号斜率控制技术,有效抑制电磁干扰(EMI)。 段线性修正能力,提高系统的测量准确度。 可存储和调用9个不同量程传感器的校准数据,两种校准方法包括传感器零位校准,系统加荷校准、灵敏度输入校准。高精度的数据恢复和移植技术,在需要时(如不慎将需保留的校准数据删除或仪表发生故障时)可进行恢复或将校准数据移入另外的仪表中,从而避免再次校准。多种单位转换包括N(牛顿)、kgf(公斤力)和lbf(英磅力)以及传感器输出信号灵敏度的测量值(mV/V)。具有快速峰值测量与保持能力。峰值保持时间可由软件设定。单独的硬件监测电路,充分保证仪表的可靠工作。配备串行打印接口和标准RS232接口可与打印机或计算机相连(选配件)。 常见的测量仪有哪些?湖州测量仪公司
模拟式位移传感器将被测位移变换为模拟量信号输出的测量元件。通常由变换元件、导向构件和测量力弹簧等部分构成,有时传感器还包括测量电路的一部分。模拟式位移传感器按变换元件工作原理又可分为电阻式、电容式、电感式、涡流式、光电式和霍尔式等。图为电感式位移传感器的结构示意图,变换元件主要是由线圈和磁芯构成的差动电感线圈。测量位移时,传感器的测量端与被测对象接触,量端感受位移S,并通过测杆使磁芯作相应的移动,因而使线圈的电感量发生变化,而发出信号。测量电路将传感器输出信号转换和放大后,由指示器指示被测位移值。磁芯的运动方向由测杆与外壳的滑动配合来限制。测量力弹簧给出使量端与被测物在测量时保持接触所需的测量力。模拟式位移传感器结构较简单、价格较低,因此使用范围很广。测量上限值为130微米~625毫米,测量误差为0.01~2%。金华电流测量仪现代化测量仪的技术发展。
近年来,利用光学原理开发的非接触测量机及各种装置非常多。如MARPOSS公司的非接触式工具测量系统MidaLaser就是利用激光测头的新型测量机,该机可在CNC机床保持运转的情况下,自动对所有工具进行非接触测量,并可根据测量所得数值,对工具进行自动定位。索尼精密工程公司的非接触形状测量机YP20/21也是利用半导体激光高速高精密自动聚焦传感器的形状测量机,所有刻度尺均系标准元件,传感器和载物台均由微型计算机控制,具有优异的操作性能和数据处理功能。YKT公司销售的非接触三坐标测量系统Zip250是一种高刚性、高速、高精密的新型测量机。该机载物台的承载量为25千克,刻度尺的分辨力(X、Y、Z轴)均为0.25微米。机上装配了带数码法兰盘的CCD摄像机和比较新DSP处理器,因此,可进行高速图像处理测量,同时,也可与接触式测头并用进行相关测量。
智能仪器具有功能较多,应用极其越来越多。多功能的特点主要是通过间接测量来实现的,配置各种传感器或转换器实现进一步扩展测量功能的作用。②面板控制采用数量有限的单触点功能键和数字键输人各种数据及控制信息,按键需完成多次复用(一键多用),甚至通过一定的键序(键语)进行编程,从而使得仪器的使用非常方便,极其灵活而多样化。③面板显示采用各种数码显示器件,如液晶数码显示器、发光二极管显示器、荧光和辉光数码显示器。④常带有GPIB通用接口,有完善的远程输人和输出能力。有些仪器也配置BCD码并行接口或RS-”2C串行接口,均可纳人自动测试系统中工作。⑤除了能通过接口电路接入自动测试系统中之外,仪器本身具备一定的自动化能力,如自动量程转换、自动调零、自动校准、自动检查及自动诊断、自动调整测试点等。⑥利用微处理器执行准确或精密的测量算法,做到克服或弥补仪器硬件电路的缺陷和弱点,从而获得较高的性价比。智能仪器是以微处理器为基础而设计制造的。位移速度测量仪的内部结构是什么样的?
现代精密测量技术是一门集光学、电子、传感器、图像、制造及计算机技术为一体的综合学科,涉及越来越多的学科领域,它的发展需要众多相关学科的支持。在现代工业制造技术和科学研究中,测量仪器具有精密化、集成化、智能化的发展趋势。三坐标测量机(CMM)是适应上述发展趋势,它几乎可以对生产中的所有三维复杂零件尺寸、形状和相互位置进行高准确度测量。发展高速坐标测量机是现代工业生产的要求。同时,作为下世纪的重点发展目标,各国在微/纳米测量技术领域开展了越来越多的应用研究精密数字测量仪操作简单、快速便捷。扭矩测量仪排行
精密测量仪的组成结构和特点解析。湖州测量仪公司
近年来,精密测量技术发展迅速,成果喜人。例如在线测量技术,已可进行加工状态的实时显示,及时检测是否出现异常状况,从而可大幅度提高生产效率。对于机床控制装置,则要求高精度化、低成本和小型化。因为诸如汽车发动机等均要求其组成零部件必须具有非常高的精度,以便减少噪声、防止环境污染和节省能耗,这些都是时代对制造业提出的紧迫要求。在高精度加工和质量管理过程中,随着光机电一体化、系统化的发展,光学测量技术有了迅速的发展,相应的测量机产品大量涌现,测量软件的开发也日益受到重视。
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