HALT(Highly Accelerated Life Test,高加速寿命试验)-HASS(Highly Accelerated Stress Screening,高加速应力筛选)、这是一种能够提高产品地震的测试手段,HALT/HASS 是由美国军方所延伸出的设计质量验证与制造质量验证的试验方法,现已成为美国电子业界的标准产品验证方法。它将原需花费6 个月甚至1 年的新产品地震试验缩短至一周,且在这一周中所发现的产品问题几乎与客户应用后所发现的问题一致,故HALT/HASS 的试验方式已成为新产品上市前所必需通过的验证。在美国之外,许多国际的3C 电子产品大厂也都使用相同或类似的手法来提升产品质量。 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力、进而发现其设计上的缺限,以及潜在弱点的实验方法。加诸于产品的应力有振动,高低温,温度循环,电力开关循环,电压边际及频率边际测试等。HALT 应用于产品的研发阶段,能够及早地发现产品地震的薄弱环节。地震测试哪里可以做?核设备抗震地震哪里可以做
上海天梯检测技术有限公司地震试验目的: 要包括高温试验、低温试验、温度快速变化试验、温度冲击试验、恒定温湿度试验、温湿度循环试验、盐雾试验、防水防尘试验、紫外老化试验和氙灯老化试验等。是考核产品在各种环境条件下的适应能力,是评价产品地震的重要试验方法之一。 低温试验 试验目的:用来考核试验样品在低温条件下贮存或使用的适应性。常用于产品在开发阶段的型式试验、元器件的筛选试验等。 试验设备:高低温(湿热)试验箱。 试验条件:一般选定一恒定的温度和试验时间。 推荐常用的温度有:- 65℃,-55℃,-40℃,-25℃,-10℃,-5℃,+5℃等; 推荐常用的试验时间有:2h,16h,72h,96h等。浦东新区模拟试验地震实验请问有谁知道NTC温度传感器的地震测试?
上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 1、低温试验: 低温测试标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温GB/T 2423.1-2008,只做:温度≥-70℃。 2、高温试验: 高温测试标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 只做:温度≤300℃。 3、恒定湿热试验: 湿热试验标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cy: 恒定湿热主要用于元件的加速试验 GB/T 2423.50-2012,IEC 60068-2-67:1995。只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Cab:恒定湿热试验 GB/T 2423.3-2006,IEC 60068-2-78:2001 只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH。 4、交变湿热试验: 电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Db:交变湿热(12h+12h循环) GB/T2423.4-2008,IEC 60068-2-30:2005。只做:温度(10~95)℃,湿度:(20~98)%RH。
上海天梯检测,输入低压点循环测试 一次电源模块的输入欠压点保护的设置回差,往往发生以下情况:输入电压较低,接近一次电源模块欠压点关断,带载时欠压,断后,由于电源内阻原因,负载卸掉后电压将上升,可能造成一次电源模块处于在低压时反复开发的状态。 电源模块带满载运行,输入电压从(输入欠压点-3V)到(输入欠压点+3V)缓慢变化,时间设置为5~8分钟,反复循环运行,电源模块应能正常稳定工作,连续运行较少0.5小时,电源模块性能无明显变化。所有地震测试可以用一个产品么?
地震试验有多种分类方法. 1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验; 2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验; 3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验; 4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。 5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类:A. 环境试验B. 寿命试验C. 筛选试验D. 现场使用试验E. 鉴定试验 1. 环境试验是考核产品在各种环境(振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等)条件下的适应能力,是评价产品地震的重要试验方法之一。地震测试与质量检测有何区别?民用建筑检测地震哪里可以做
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为了确认产品能在这些环境下正常工作,国标、行标都要求产品在环境方法模拟一些测试项目,上海天梯检测技术有限公司为客户提供以下地震测试服务: 高低温循环测试 恒温恒湿测试 交变湿热测试 低温存储测试 高温存储测试 高低温冲击测试 盐雾测试(Salt Spray Test) 开关电测试(Switch electrical test) 胶带附着力测试(The tape adhesion test) 振动测试随机/正弦(Vibration test) 包装箱自由跌落测试(Drop test) 元器件推拉力测试(Push And Pull) 蒸气老化测试(Steam Aging test) 元器件可焊性测试(Solderability test) IP等级防护测试 电源拉扭力测试 LED光衰寿命测试及认证 回焊炉试验 塑封芯片MSL等级测试核设备抗震地震哪里可以做
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