西藏stil传感器测量速度

注意事项：•当整理光纤线时避免将其弯曲成曲率半径小于20mm的圆弧。•当不用光纤连接时，为了避免光纤头被污染，插口必须被保护盖盖住，否则可能导致传感器出故障。

你知道光谱共焦传感器为什么采用LED白光吗？

其实大家知道混色光是由众多不同波长光线组成的，我们称之为光谱。下面跟着小编一起来了解下光谱共焦传感器使用LED白光的原因吧：所有不同波长的可见光重叠在一起，形成白光。人类肉眼可见光的波长范围从400nm(蓝光)到700nm(红光)。通过透镜，不同颜色的光不会聚焦到同一个点上。这种现象称为色差透镜错误或者叫色差透镜偏差。 光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，让您满意，欢迎您的来电！西藏stil传感器测量速度

什么是光谱共焦？光学传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理，我们的传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。用于工业环境中的设计，STIL传感器的各系列，吸引集成器与测量检测机器轻松连接，这归功于为每台仪器提供的动态链接库（DLL）

光学原理我们的光学传感器基于高度创新的共焦彩色成像原理。入射的白光***通过彩色物镜成像为沿Z轴的连续单色图像，从而沿光轴提供“颜色编码”反向散射的光束通过过滤***进入光谱仪，该光谱仪确定波长已完全聚焦于物体上，然后精确地确定其在测量场的位置。共聚焦光谱成像技术以极高的分辨率提供可靠、精确和可再现的尺寸测量。 广东光谱共焦传感器测量速度马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，欢迎您的来电哦！

光谱共焦位移传感器

￭外形尺寸测量

￭空气夹层测量

￭厚度(透明物体)测量

￭段差高度(非透明物体)测量

￭外形轮廓测量

￭表面型貌测量

￭表面粗糙度测量

￭表面微小划痕测量

￭三维测量

￭平面度测量

优势•

￭高分辨率，比较高可达纳米级•

￭高精度，比较高可达16纳米•

￭同轴光测量，相比较三角反射测量，无测量盲区•

￭可以测量几乎所有材料的表面，不论是漫反射表面，或者是高光亮面，或者是透明物体表面•

￭物体表面的颜色对于测量结果没有任何影响，可以解决对于激光难以测量的黑色或者白色物体•

￭可以同时测量多层玻璃或者胶的厚度

汽车行业汽车是现代工业自动化的产物。汽车行业高速发展，汽车各个部件的生产制造过程中，涉及到各种各样的测量、识别、分选和检查，例如微小工件尺寸的精确测量，工件装配的段差和间隙的测量，产品包装上的条码和字符识别等。它们可能具有以下一些特点：高速大批量检测、检测精度要求高、被测对象尺寸微小等。

在上述的这些情况下，利用人工无法连续稳定的进行检测；另外，每个人的判断标准不统一也导致检测结果的不一致。这时，人们开始考虑把利用相机镜头来代替人类视觉并结合图像处理技术来实现检测，于是形成了一门新学科----机器视觉。光谱共焦传感器运用高分辨率线性相机（亚微米探测）和高扫描速度，满足了汽车制造过程对精度和速度的要求。 使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点。

光谱共焦技术的非接触测量

Irix ™是一系列基于彩色共焦技术的非接触式传感器，能够测量对白光透明的任何材料上的距离和厚度。

Irix ™ 可同时测量5层材料。该控制器可与一大系列具有不同测量范围、机械尺寸和计量规范的光学探针结合使用，以满足多样化的应用需求。

控制器有两种型号可供选择：带7英寸集成显示屏，或带有用于文件柜.display或采用盲板形式，机柜采用带DIN导轨连接。

Irix控制器系列由不同型号（1个和2个同步通道）组成，结合各种各样的光学元件（Marposs和STIL），可提供优良的计量性能（高达纳米）。Irix以比较高的质量标准制造，是一种坚固可靠的产品，适合在工业环境中使用。

彩色共焦技术允许测量任何能够反射白光的材料（例如：金属、玻璃、塑料、漆膜、液体）。

非接触式测量适用于所有需要在不接触目标的情况下进行测量的情况一个光学探针可同时测量多达五个透明层高测量精度可互换传感器；

Irix可保存多达32张地图，以便使用比较合适的探头。

集成7“显示器不受热噪声和电噪声影响的无源光学探头SDK和协议命令的可用性，便于集成到任何系统中缩小测量点动态采集用编码器同步测量（空间同步）粗糙度测量 光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技。湖南2D 测量传感器品牌

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什么是光谱共焦干涉仪？非接触式轮廓测量技术中的测量精度，通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰，开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统，干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。

光谱共焦干涉测量原理干涉测量法基于白光干涉图（SAWLI）的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号，以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起，机械振动不会影响测量结果。此外，该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。**小可测厚度为0.4μm。 西藏stil传感器测量速度

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