nGaAs是由两种Ⅲ-Ⅴ族半导体材料组成的三元系半导体化合物,它的带隙随组分比例的变化而变化。基于此材料制备的IR探测器,其响应截止波长可达到3μm以上,响应范围完全覆盖NIR波段,是该波段探测器团体里**重要的成员。在该体系下,其他化合物性能如下图所示:与其它的常用IR探测器相比,InGaAs探测器的兴起较晚,在上世纪80年代才开始走进人类的视野。近年来,得益于NIR成像的强势崛起,InGaAs的发展势头也十分迅猛。在实际生产中,一般将InGaAs材料生长在磷化铟(InP)衬底上,红外热像仪两者的晶格失配度也会随InGaAs组分的变化而变化。通俗地讲热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像。双光路红外热像仪代理品牌
(2)InSb探测器(PC&PV)InSb属于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体材料,它是**早应用于IR探测技术的材料之一,其生长技术已发展得非常成熟。在液氮温度下,InSb带隙所对应的波长稍稍大于5μm,此时InSb探测器的响应范围完美覆盖MIR波段,且探测率能在整个MIR波段维持很高的水平,因此InSb探测器在MIR波段探测方面有着举足轻重的地位。下图是InSb半导体材料及完成后的芯片。随着红外热像仪工作温度的上升,InSb探测器的量子效率可维持不变,直至160K才开始逐渐衰减。InSb FPA探测器被广泛应用到了***与天文领域,美国RVS(Raytheon Vision Systems)是这类探测器比较大且**出色的制造商。德国Optris红外热像仪量大从优红外热像仪在工业检测中扮演着关键角色,能够快速识别设备过热问题。
由于大尺寸HgCdTe FPA探测器的制作成本居高不下,QWIP FPA探测器被寄予厚望,因而发展迅速。在LWIR波段,目前QWIP FPA探测器的性能足以与**的HgCdTe相媲美。QWIP也存在一些缺点:因存在与子带间跃迁相关的基本限制,QWIP需要的工作温度较低(一般低于液氮温度),QWIP的量子效率普遍很低。一般而言,PC探测器的响应速度比PV慢,但QWIP PC探测器的响应速度与其它PV红外热像仪相当,所以大规模QWIP FPA探测器也被研制了出来。与HgCdTe—样,QWIP FPA探测器也是第三代IR成像系统的重要成员,这类探测器在民用与天文等领域都有着大量的使用案例。
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红外热像仪可以用于安全检查和故障排查。由于红外热像仪可以检测和显示物体的热分布情况,因此在以下情况下特别有用:安全检查:红外热像仪可以用于检测电气设备、机械设备、管道等的异常热点,以及可能存在的火灾隐患。通过及早发现和解决这些问题,可以避免潜在的安全风险。故障排查:红外热像仪可以用于检测设备或系统的故障点,如电路板上的热点、电机的过热、管道的漏水等。通过快速定位和识别故障点,可以提高故障排查的效率和准确性。建筑热效应评估:红外热像仪可以用于评估建筑物的热效应,如检测建筑物的热桥、热漏风等问题。通过分析和改善这些热效应问题,可以提高建筑物的能源效率和舒适性。热工程应用:红外热像仪可以用于热工程领域的应用,如热工试验、热流场分析等。通过观察和分析物体的热分布情况,可以获得有关热传导、热辐射等方面的信息。工业中红外热像技术的另一用途是精确检测运行中机器,使机器保持持安全运转状态。testo 858红外热像仪试用
红外热像仪的优缺点是什么?双光路红外热像仪代理品牌
红外热像仪的图像可以保存和分享。现代的红外热像仪通常配备了内置存储器或可插入的存储卡,可以将拍摄的图像保存在设备中。此外,一些红外热像仪还具有无线连接功能,可以通过Wi-Fi或蓝牙将图像传输到其他设备,如智能手机、平板电脑或计算机。保存的红外热像图像可以用于后续分析、报告编制、故障诊断等目的。用户可以使用红外热像仪自带的软件或第三方软件来查看、编辑和分析图像。此外,红外热像仪的图像也可以通过电子邮件、社交媒体或其他文件共享平台进行分享。这样,用户可以与其他人共享图像,并进行讨论、咨询或展示。双光路红外热像仪代理品牌