SPM5000高精度快速光谱仪测试系统满足色温与流明值的测量。色温是指用来表示光源光色尺度的参数,单位为K。例如色温3000K就是假设有一个***黑体,将其加热到2727℃(-273℃为温度起点)时发出的光进行比较,其实就是一温度来表示光色的。流明值指的是光通量的单位流明,是一个表征亮度程度的单位,简单定义就是蜡烛烛光在1公尺以外所显现出的亮度。色温与流明值物直接关系。 在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体色温与流明值参数。SPM-5000高精度快速光谱仪用于植物灯测试。光谱分析系统光谱仪设计
SPM-5000高精度快速光谱仪采用目前国际先进的全息凹面光栅分光技术,光路设计独特,杂散光极低。测试准确度及重复性完全可媲美进口同类产品。在光谱仪中,杂散光是形成系统背景光谱的主要原因,若背景光谱较强,则可能影响到微弱光信号的检测,降低系统的信噪比,同时会直接影响测量信号的准确度及单色性。目前市场上大多数光谱仪制造商所提供的快速CCD光谱仪分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合,会产生极大的杂散光,对测量结果影响很大。翊明科技为了克服以上问题,公司采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计,通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的,只需一个光学元件,很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光,使光学匹配更完美,系统所获得的光谱更纯,线性更好。杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的效果。光谱分析系统光谱仪设计SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出光谱光量子分布(*.sqd)格式。
SPM5000高精度快速光谱仪的性能体现在以下六个参数上:1、光谱覆盖范围:光谱仪能检测到的波长范围(380-800nm(200-800nm可选))。2、光谱分辨率:光谱仪所能分辨的**小波长差(波长分辨率描述了光谱仪区分波长的能力,波长分辨率和波长采样间隔是两个不同的概念。高波长分辨率意味着窄波长范围。)。3、灵敏度:光谱仪能检测到的**小光能。(灵敏度表示光谱仪将光信号转换为电信号的能力。高灵敏度降低了噪声对电路本身的影响。狭缝宽度、光栅类型、探测器类型和电路参数都会影响灵敏度。人为增加前置放大器功率会增加标称灵敏度,但不会增加实际测量值。)4、动态范围:光谱仪测得的比较大和**小光能之比(当信号值与噪声值相当时,很难区分信号和噪声。对应于噪声的信号值通常用于表征可以通过光谱仪测量的微弱光的强度。噪声等效功率越低,光谱仪可以测量的信号越弱。)。5、信噪比:信号能量水平与光谱仪噪声水平的比值。6、光谱采集率:光谱仪产生可测量的信号并在特定入射光能级下采集光谱所需的时间。
SPM-5000高精度快速光谱仪用于植物灯测试之《植物每天需要的辐射量》:许多人热衷研究植物辐射的补偿点和饱和点来推算植物灯应该使用多大的PPFD,从补偿点到饱和点的范围较大(如下图所示),在这个范围的选择植物灯的光量具有人为的随机性,补偿点与饱和点只是定性分析,量化过程一定要考虑其他环境因素,不可以机械的理解,用“光餐”解释植物补光可能更为恰当,在我们的种植工艺**系统里,我们给出的是植物每天每平方米合理需要的辐射量,这个量值关系到种植成本与种植品质,我们的这个参数是参考农业科学长期研究的种植工艺参数DLI,具有理论依据。日光合量DLA(Daily light amount):指人造光源在光周期下每天每平方米的PPFD所产生的光子的摩尔数量,单位:mol/m2d。由于植物灯的光量在光周期下是恒定的,DLA=0.0036*PPFD*PP。PP-光周期单位:小时。DLA是种植工艺参数,植物工厂的植物种植所需要的PPFD就是用DLA计算出来的。SPM-5000高精度快速光谱仪满足IES LM-82-12标准。
SPM-5000高精度快速光谱仪采用世界先进的具有平场校正功能的全息光栅,精密光学系统和电子控制技术。测试速度可以达到毫秒级,并且测试精度可以达到实验室水平。采用独特的杂散光控制技术,宽动态线性技术来实现高精度测量。SPM-5000具有高重复性和稳定性,完全满足IES LM-79-08,IES LM-80-08,CIE127-1997和IES LM-82-12的要求。可测量光源的光通量,辐射功率,CIE色温,CIE色品坐标,CIE色纯度,峰值波长,主波长,质心波长,色容差SDCM(含国际和国内标准),峰值半宽度,显色指数CRI,CQS,TM-30,GAI,TCLI,FSI,光子通量,PPF,PAR,Ponmax,电学参数等。测试数据可以导出IES TM-27 2014(*.spdx)、IES TM-33 2018(*.xml)、光谱光量子分布(*.sqd)、光谱功率分布(SPD)(*.txt)等格式。SPM-5000高精度快速光谱仪测试系统满足全色域指数GAI显色评价方法的测量。光谱分析系统光谱仪设计
SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出IES TM-33 2018(*.xml)格式。光谱分析系统光谱仪设计
SPM-5000高精度快速光谱仪用于分析光束的光谱组成。结合光学探针和校准可组成一个测量仪器,即光谱仪。搭配适合的软件和其他配件,光谱仪提供可以解决光度测量任务的解决方案。应用范围包括:成熟的 LED 或显示屏制造商对质量的把控,到开发全新的照明、LED、激光器、汽车和显示屏产品。光谱仪的重要部件是衍射光栅,它负责将待分析光束分割成光谱分量,然后投射到探测器上。这样便可以评估单个波长的能源等级。探测器阵列会同时采集整个光谱,因此测量时间极短,可达毫秒级。阵列光谱仪功能多样,所以***用于实验室中。此外,阵列光谱仪坚固耐用,光通量高,非常适合在工业应用中进行光测量,例如,用于生产单个 LED 和各种类型的显示屏。光谱分析系统光谱仪设计
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